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龙图腾网获悉成都凯迪精工科技有限责任公司;四川大学申请的专利基于域泛化的高动态范围反射表面的三维重建方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120495541B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510990196.1，技术领域涉及：G06T17/00；该发明授权基于域泛化的高动态范围反射表面的三维重建方法是由朱江平;殷贵刚;周佩;温照生;甘芳吉设计研发完成，并于2025-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于域泛化的高动态范围反射表面的三维重建方法在说明书摘要公布了：本发明属于图像处理技术领域，涉及基于域泛化的高动态范围反射表面的三维重建方法。该方法包括：确定原始图像中的过曝光区域与欠曝光区域；利用UNet网络从长曝光图像中提取背景强度特征信息，通过亮度估计得到暗部特征与亮部特征；根据暗部特征与亮部特征生成伪亮度特征图；采用扩展可变形卷积估计原始图像的暗部特征与伪亮度特征图之间的暗度偏移以及亮部特征与伪亮度特征图之间的亮度偏移；将暗度偏移以及亮度偏移与条纹图像融合，得到修正后的条纹图像，利用修正后的条纹图像进行三维重建。本发明显著改善了条纹图像的调制分布，显著提高了HDR条件下条纹图像的质量，并为后续的三维重建提供了高质量的输入。

本发明授权基于域泛化的高动态范围反射表面的三维重建方法在权利要求书中公布了：1.基于域泛化的高动态范围反射表面的三维重建方法，其特征在于，包括： 设定过曝度阈值与欠曝光度阈值，根据过曝度阈值与欠曝光度阈值确定原始图像中的过曝光区域与欠曝光区域； 利用UNet网络从长曝光图像中提取过曝区域与欠曝区域的背景强度特征信息，通过亮度估计得到暗部特征与亮部特征； 利用伪特征生成器根据暗部特征与亮部特征生成伪亮度特征序列； 采用扩展可变形卷积估计原始图像的暗部特征与伪亮度特征图之间的暗度偏移以及亮部特征与伪亮度特征图之间的亮度偏移，包括：将伪亮度特征序列作为参考信息，使用一个调制偏移估计模块计算亮调制特征序列与伪亮度特征序列之间的第一调制分布偏移，以及使用另一个暗调制特征序列与伪亮度特征序列之间的第二调制分布偏移； 设为四步相移图像的高度，为四步相移图像的宽度，为实数集，长曝光时间下拍摄的四步相移图像序列对应的亮调制特征序列为，，短曝光时间下拍摄的四步相移图像序列对应的暗调制特征序列为，，伪亮度特征序列为，，第一调制分布偏移为，，第二调制分布偏移为，，表示调制偏移估计映射，则第一调制分布偏移与第二调制分布偏移的计算公式为：；；采用扩展可变形卷积估计暗部偏移与亮部偏移时，设是一个方格的坐标集，表示中的坐标索引，为卷积操作的输入特征，为卷积核的原始坐标中心，卷积核中第个采样点的原始坐标，表示第个采样点的空间偏移量，表示第个采样点的调制偏移，是卷积核的学习参数，是输入图像中每个像素的可变形卷积输出，则可变形卷积计算过程表示为：； 将暗度偏移以及亮度偏移与条纹图像融合，得到修正后的条纹图像，利用修正后的条纹图像进行三维重建。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人成都凯迪精工科技有限责任公司;四川大学，其通讯地址为：610041 四川省成都市武侯区武侯祠大街89号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。