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龙图腾网获悉深圳市瑜威电子科技有限公司申请的专利一种光学指纹识别方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120452035B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510940765.1，技术领域涉及：G06V40/13；该发明授权一种光学指纹识别方法及系统是由李冀楠;潘武;朱龙;成其标;马红红;罗志坚设计研发完成，并于2025-07-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学指纹识别方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及指纹识别的技术领域，提供了一种光学指纹识别方法及系统，其方法包括：获取来自光学指纹识别系统的目标手指的指纹图像；基于指纹图像进行初步指纹细节提取，生成初步指纹细节信息；筛选出初步指纹细节信息中位于指纹图像边缘区域的、形态可疑的指纹细节，生成可疑指纹细节信息；获取目标手指邻近手指的邻近手指图像信息；分析可疑指纹细节信息和邻近手指图像信息之间的干扰成因关联性，生成对应的干扰成因关联性分析结果；基于干扰成因关联性分析结果，校正指纹识别过程中的可疑指纹细节信息，以修正因邻近手指干扰导致的指纹特征提取错误。本发明具有提高光学指纹识别系统在多指输入场景下的识别准确性和可靠性，降低误判风险的效果。

本发明授权一种光学指纹识别方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种光学指纹识别方法，其特征在于，包括： 获取来自光学指纹识别系统的目标手指的指纹图像； 基于所述指纹图像进行初步指纹细节提取，生成初步指纹细节信息； 筛选出所述初步指纹细节信息中位于所述指纹图像边缘区域的、形态可疑的指纹细节，生成可疑指纹细节信息； 获取所述目标手指邻近手指的邻近手指图像信息； 分析所述可疑指纹细节信息和所述邻近手指图像信息之间的干扰成因关联性，生成对应的干扰成因关联性分析结果；所述分析所述可疑指纹细节信息和所述邻近手指图像信息之间的干扰成因关联性，生成对应的干扰成因关联性分析结果的步骤包括：在所述指纹图像的边缘区域中识别所述可疑指纹细节信息对应的指纹细节聚集区域；提取所述指纹细节聚集区域的组织形态特征；基于所述邻近手指图像信息，获取所述邻近手指的位置信息；根据所述位置信息，判断所述指纹细节聚集区域是否处于所述邻近手指的潜在光学影响范围，生成位置判断结果；将所述组织形态特征与预设的伪特征集群形态规则进行比对，生成形态比对结果；所述预设的伪特征集群形态规则是指预先建立的、描述由邻近手指干扰可能导致的伪特征在形态上的典型表现模式的集合；基于所述形态比对结果和所述位置判断结果进行关联性分析，当所述形态比对结果和所述位置判断结果均表示与邻近手指的干扰相关时，确定存在关联性，并基于关联性分析结果生成所述干扰成因关联性分析结果； 基于所述干扰成因关联性分析结果，校正指纹识别过程中的所述可疑指纹细节信息，以修正因邻近手指干扰导致的指纹特征提取错误。

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