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龙图腾网获悉上海季丰技术有限公司申请的专利芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120429184B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510926783.4，技术领域涉及：G06F11/273；该发明授权芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品是由倪卫华;郑朝晖设计研发完成，并于2025-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：本申请涉及半导体测试领域，提供了芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品。该方法包括：获取待测数字信号，待测数字信号为待测芯片对预设模拟信号进行信号处理得到；在待测数字信号为非整周期采样信号的情况下，调用目标窗函数对待测数字信号进行平滑处理，得到待测频谱数据；基于待测频谱数据以及预设的芯片性能合格指标，确定待测芯片的性能测试结果，预设的芯片性能合格指标基于待测芯片的性能参数确定。本申请能够在芯片测试系统各部分没有进行时钟信号同步的情况下仍能对离散数字信号进行处理，并能够对待测数字信号进行有效的平滑处理，从而最大程度地减少出现频谱泄漏和误差累积等问题，进而提高芯片测试结果的精确性。

本发明授权芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，用于芯片测试装置，其特征在于，包括： 获取待测数字信号，其中，所述待测数字信号为待测芯片对预设模拟信号进行信号处理得到； 对所述待测数字信号进行截取采样，得到有限长度的采样时域信号；若所述采样时域信号为非整周期采样信号，则调用目标窗函数对所述采样时域信号进行平滑处理，得到待测时域信号；其中，所述目标窗函数的表达式如下： ； 其中，表示目标窗函数，、、、分别为目标窗函数的第一系数、第二系数、第三系数和第四系数，表示当前采样点对应的采样数值，表示采样时域信号的采样点总数量； 提取所述待测频域信号的幅度谱和相位谱；若所述幅度谱包含零值，则对所述幅度谱进行零值平滑处理，得到第一处理数据；对所述第一处理数据进行对数化处理，得到第二处理数据；对所述第二处理数据进行归一化处理，得到第三处理数据；将所述第三处理数据和相位谱进行组合，得到待测频谱数据； 基于所述待测频谱数据以及预设的芯片性能合格指标，确定所述待测芯片的性能测试结果，其中，所述预设的芯片性能合格指标基于所述待测芯片的性能参数确定，所述预设的芯片性能合格指标基于以下至少一个性能参数确定：预设激励信号的性能参数、数模转换的性能参数、待测芯片的性能参数。

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