中国计量大学陈薇获国家专利权
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龙图腾网获悉中国计量大学申请的专利3D荧光光谱散射噪声自动去除方法、装置及其可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120336724B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510804780.3，技术领域涉及：G06F18/10；该发明授权3D荧光光谱散射噪声自动去除方法、装置及其可读存储介质是由陈薇;孙源初;戚园园;胡景贻;陈良;伍其辉;陈慧子;江国彬;马思晨;吴沁遥设计研发完成，并于2025-06-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本3D荧光光谱散射噪声自动去除方法、装置及其可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提出了一种3D荧光光谱散射噪声自动去除方法、装置及其可读存储介质，属于光谱数据分析与光学信号处理技术领域。本发明旨在解决现有技术中传统方法去除散射噪声时存在降低信号强度、丢失有用信息、成本高、通用性差以及操作复杂等问题。提出的方法包括：数据采集、预处理、散射噪声识别及去除和数据输出等步骤，通过图像识别算法和特定数学模型自动去除散射噪声。本发明适用于3D荧光光谱数据处理，能提高数据准确性，广泛应用于环境监测、生物医学和材料科学等领域的光谱数据分析。
本发明授权3D荧光光谱散射噪声自动去除方法、装置及其可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种3D荧光光谱散射噪声自动去除方法，其特征在于，包括以下步骤： 对原始3D荧光光谱数据进行预处理，构建激发波长、发射波长与荧光强度的三维数据结构； 基于三维数据结构的空间密度分布，采用DBSCAN聚类算法识别潜在散射噪声点； 基于统计分布特征，采用Z-score方法对聚类结果进行二次校验，确定最终噪声点集合； 对剔除噪声后的光谱数据进行插值重构，恢复光谱曲面连续性；其中，所述插值重构采用双向三次样条插值，沿激发波长轴与发射波长轴分段插值，确保光谱曲面平滑过渡； 通过量化指标评估去噪效果，所述量化指标为信噪比，通过计算信号能量与噪声能量的比值评估去噪效果。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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