上海超捷芯软科技有限公司潘仲豪获国家专利权
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龙图腾网获悉上海超捷芯软科技有限公司申请的专利集成电路工艺偏差敏感度分析方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120257938B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510704160.2，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权集成电路工艺偏差敏感度分析方法、装置、设备及介质是由潘仲豪设计研发完成，并于2025-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本集成电路工艺偏差敏感度分析方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种集成电路工艺偏差敏感度分析方法、装置、设备及介质，包括：对集成电路中所有器件对应的工艺偏差变量进行N次随机采样，得到工艺偏差变量的采样矩阵；根据采样矩阵进行电路仿真，得到对应的电路性能向量，将所述采样矩阵和所述电路性能向量构成数据集；基于所述采样矩阵和所述电路性能向量构建电路性能参数模型；将属于同一个器件的随机工艺偏差变量对于电路性能的影响进行合并，以评估每一个器件对于电路性能的影响，识别对电路性能影响最大的关键器件。本申请实施例能够在保证分析精度的前提下，高效完成高维工艺偏差空间的敏感度分析，并准确识别对电路性能影响最大的关键器件，便于优化电路设计。
本发明授权集成电路工艺偏差敏感度分析方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种集成电路工艺偏差敏感度分析方法，其特征在于，包括： 对集成电路中所有器件对应的工艺偏差变量进行N次随机采样，得到工艺偏差变量的采样矩阵； 根据所述采样矩阵进行电路仿真，得到对应的电路性能向量，将所述采样矩阵和所述电路性能向量构成数据集； 基于所述采样矩阵和所述电路性能向量构建电路性能参数模型； 将属于同一个器件的工艺偏差变量对于电路性能的影响进行合并，以评估每一个器件对于电路性能的影响， 识别对电路性能影响最大的器件； 其中，所述评估每一个器件对于电路性能的影响，包括： 根据所述电路性能参数模型的系数，计算每个器件对电路性能的方差，以评估关键器件，其中，所述方差值越大，其对应的器件对于电路性能的影响就越大。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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