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上海交通大学魏红江获国家专利权

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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利颅脑低频电导率张量建模方法、系统、介质、电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119963742B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510226472.7,技术领域涉及:G06T17/00;该发明授权颅脑低频电导率张量建模方法、系统、介质、电子设备是由魏红江;孙通设计研发完成,并于2025-02-27向国家知识产权局提交的专利申请。

颅脑低频电导率张量建模方法、系统、介质、电子设备在说明书摘要公布了:本发明提供一种颅脑低频电导率张量建模方法、系统、介质、电子设备,所述方法包括以下步骤:获取颅脑的快速自旋回波序列的相位图像;基于所述相位图像获取所述颅脑的高频电导率图像;基于多激发扩散加权序列采集所述颅脑的扩散加权幅值图像;基于所述扩散加权幅值图像,采用多隔层模型获取所述颅脑的扩散微结构参数;基于所述高频电导率图像和所述扩散微结构参数生成所述颅脑的低频电导率张量图像;基于所述颅脑的磁化准备快速梯度回波序列生成数字头颅模型;基于所述低频电导率张量图像和所述数字头颅模型生成颅脑低频电导率张量模型。本发明的颅脑低频电导率张量建模方法、系统、介质、电子设备为tTIS提供更加准确的靶点规划。

本发明授权颅脑低频电导率张量建模方法、系统、介质、电子设备在权利要求书中公布了:1.一种颅脑低频电导率张量建模方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤: 获取颅脑的快速自旋回波序列的相位图像; 基于所述相位图像获取所述颅脑的高频电导率图像; 基于多激发扩散加权序列采集所述颅脑的扩散加权幅值图像; 基于所述扩散加权幅值图像,采用多隔层模型获取所述颅脑的扩散微结构参数; 基于所述高频电导率图像和所述扩散微结构参数生成所述颅脑的低频电导率张量图像; 基于所述颅脑的磁化准备快速梯度回波序列生成数字头颅模型; 基于所述低频电导率张量图像和所述数字头颅模型生成颅脑低频电导率张量模型; 基于所述扩散加权幅值图像,采用多隔层模型获取所述颅脑的扩散微结构参数包括以下步骤: 采用多隔层模型,对所述扩散加权幅值图像进行拟合,获取所述扩散微结构参数,所述扩散微结构参数包括细胞内扩散率、细胞内体积分数、细胞外扩散率和细胞外扩散张量; 采用多隔层模型,对所述扩散加权幅值图像进行拟合,获取所述扩散微结构参数包括以下步骤: 生成仿真标签其中fs表示棍隔层体积分数、Ds表示棍隔层扩散率,和分别表示飞艇平行和垂直扩散率,fext表示细胞外体积分数,Dext表示细胞外扩散率,pl是l阶旋转不变量; 基于所述仿真标签生成仿真信号; 采用多项式回归模型拟合所述仿真标签和所述仿真信号之间的映射空间; 将实测扩散加权幅值数据输入所述映射空间,获取对应的扩散微结构参数的估计值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海交通大学,其通讯地址为:200240 上海市闵行区东川路800号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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