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龙图腾网获悉季华实验室申请的专利电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119540174B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411593488.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质是由李友高;许朝智;常沛炜;吴星辰;李荣基;戴瑶;李骁设计研发完成，并于2024-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及图像识别技术领域，尤其涉及电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测图像并进行预处理，得到预处理图像；将预处理图像输入至预构建的缺陷检测模型，基于预确认的卷积权重对预处理图像进行特征提取处理，并基于预确认的融合权重对多个不同尺度的特征图进行融合处理，再采用检测头对融合特征图进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；本申请公开的缺陷检测方法，旨在解决现有的PCB缺陷检测方法中计算复杂度高、实时性差、对小目标检测不敏感的问题；通过引入动态卷积选择机制调整卷积权重，确保模型在处理微小缺陷时具有高精度；通过引入权重自适应机制调整融合权重，可减少冗余信息的计算，大幅提高检测效率。

本发明授权电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电路板缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取待检测图像并进行预处理，得到预处理图像； 在构建缺陷检测模型时，选择可用于电路板缺陷检测的YOLOv8模型作为教师模型，并获取教师模型反馈的软标签；获取用于训练缺陷检测模型的数据集所包括的硬标签；基于所述软标签设置所述缺陷检测模型的蒸馏损失函数，并基于所述硬标签设置所述缺陷检测模型的任务损失函数；将预处理图像输入至预构建的缺陷检测模型，所述缺陷检测模型包括依次连接的提取网络、特征融合网络和检测头，所述提取网络包括多个卷积模块，每个卷积模块包括多个卷积层和第一全连接层，每个卷积层的卷积核的大小各不相同，每个卷积层对应一个卷积权重； 确认提取网络所包括的各个卷积模块的卷积权重，基于所述卷积权重，采用提取网络对预处理图像进行特征提取处理，得到多个不同尺度的特征图，具体的，对输入的预处理图像进行全局平均池化操作，得到第一全局上下文信息；在第一全连接层中，根据第一全局上下文信息，采用Sigmoid激活函数生成与多个卷积层分别对应的多个卷积权重；在卷积模块中，各个卷积层基于其对应的卷积权重并行地对预处理图像进行卷积操作，得到特征图；整合多个卷积模块输出的特征图，得到多个不同尺度的特征图； 确认与尺度对应的融合权重，基于所述融合权重，采用特征融合网络对多个不同尺度的特征图进行融合处理，得到融合特征图，具体的，在特征融合网络中，分别对不同尺度的特征图进行全局平均池化操作，得到第二全局上下文信息；采用特征融合网络所包括的第二全连接层，基于第二全局上下文信息和ReLU激活函数获取与尺度对应的融合权重；基于与尺度对应的融合权重，分别对多个不同尺度的特征图进行加权求和，得到融合特征图； 采用检测头对融合特征图进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。

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