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西北工业大学张钊获国家专利权

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龙图腾网获悉西北工业大学申请的专利一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119416581B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411573213.3,技术领域涉及:G06F30/23;该发明授权一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法是由张钊;周子舜;姜峰设计研发完成,并于2024-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法。该方法包括:获取目标文件,通过目标软件对目标文件中的初始晶粒图像进行数据分析,得到初始晶粒图像的晶粒尺寸、形貌结构和晶粒取向,其中,初始晶粒图像是通过EBSD进行拍摄的图像;对初始晶粒图像进行处理,得到目标晶粒图像,将目标晶粒图像中相邻两个晶粒区域的晶体取向角度差值,定义为晶粒取向差。本发明解决了现有技术中基于EBSD数据的晶体塑性有限元建模方法对金属材料抛磨处理制样过程要求很高,对晶界不连续处断点未进行处理,导致晶体塑性有限元仿真的计算效率和质量低的技术问题。

本发明授权一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法在权利要求书中公布了:1.一种基于二值化的EBSD图像处理和晶界提取方法,其特征在于,包括: 获取目标文件,通过目标软件对目标文件中的初始晶粒图像进行数据分析,得到初始晶粒图像的晶粒尺寸、形貌结构和晶粒取向,其中,初始晶粒图像是通过EBSD进行拍摄的图像; 对初始晶粒图像进行处理,得到目标晶粒图像,将目标晶粒图像中相邻两个晶粒区域的晶体取向角度差值,定义为晶粒取向差; 若晶粒取向差小于预设度数,将目标晶粒图像中相邻的两个晶粒区域的晶界定义为小角度晶界,遍历目标晶粒图像剔除小角度晶界; 当目标晶粒图像中相邻的两个晶粒区域之间的晶界存在断点时,通过元胞自动机修补目标晶粒图像中相邻的两个晶粒区域的晶界的断点,得到完整目标晶粒图像; 获取完整目标晶粒图像的每一晶界和每一晶粒区域的每一像素的行列号,基于完整目标晶粒图像的每一晶界的每一像素的行列号创建晶界单元集合,基于完整目标晶粒图像每一晶粒区域中的每一像素的行列号创建每一晶粒区域的单元集合; 将每一晶界单元集合和每一晶粒区域的单元集合的信息写入到目标模型文件对应的单元集合关键字下,得到目标模型文件对应的每一目标晶界单元集合、每一目标晶粒区域单元集合和晶体有限元模型。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人西北工业大学,其通讯地址为:710072 陕西省西安市碑林区友谊西路127号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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