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龙图腾网获悉大庆油田有限责任公司;中国石油天然气股份有限公司申请的专利一种基于测井数据的套管腐蚀形貌量化识别及分级方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119533381B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311092824.1，技术领域涉及：G01B21/20；该发明授权一种基于测井数据的套管腐蚀形貌量化识别及分级方法是由蔡萌;马文海;李俊亮;张楠;张晓川;王鹏;黄伟明;王景芹;徐广云;安志波设计研发完成，并于2023-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于测井数据的套管腐蚀形貌量化识别及分级方法在说明书摘要公布了：本发明涉及井筒完整性评价技术领域，特别涉及一种基于测井数据的套管腐蚀形貌量化识别及分级方法。该方法包括确定套管各项标准参数，获得套管内、外半径；分别对套管内径壁厚测井矩阵标准化滤波处理，构建类二值化的套管内径壁厚测井数据矩阵并进行合并，获得含腐蚀缺陷信息套管测井数据矩阵；提取各内、外腐蚀缺陷子矩阵边界行列号，确定套管各内外腐蚀缺陷长、宽、深参数及所在深度范围；依据分级原则对套管腐蚀缺陷进行分级。本发明提供的方法通过对套管测井数据进行处理分析，高效获得套管内、外腐蚀缺陷长、宽、深参数，以及腐蚀缺陷所处三维空间位置，并根据腐蚀缺陷几何参数对其进行量化分级，为套管安全评价提供重要依据。

本发明授权一种基于测井数据的套管腐蚀形貌量化识别及分级方法在权利要求书中公布了：1.一种基于测井数据的套管腐蚀形貌量化识别及分级方法，其特征在于，包括： 步骤S1、确定套管各项标准参数，获得套管内、外半径； 步骤S2、对套管内径测井矩阵标准化内径滤波处理，构建类二值化的套管内径测井数据矩阵；对套管壁厚测井矩阵标准化壁厚滤波处理，构建类二值化的套管壁厚测井数据矩阵；并对上述套管测井数据矩阵进行合并，获得可综合反应套管内外腐蚀的套管测井矩阵； 步骤S3、套管腐蚀缺陷子矩阵信息提取，通过对腐蚀缺陷子矩阵进行逐行扫描，提取各内腐蚀子矩阵边界行列号，确定各套管内腐蚀缺陷长、宽、深参数，及内腐蚀缺陷所在深度范围； 提取各外腐蚀子矩阵边界行列号，确定各套管外腐蚀缺陷长、宽、深参数，及外腐蚀缺陷所在深度范围，其具体包括： 将包含正值或负值的区域划分为一个子矩阵，则每一个子矩阵对应一个腐蚀缺陷，具体做法如下： 步骤S31、将套管测井数据矩阵A’行数定义i1、i2、....in，将矩阵列数定义为j1、j2、....ja，则得到in行和ja列的矩阵步骤； 步骤S32、对矩阵先逐行从左向右扫描，当找到第1个非0值，以正值为例，此时行号、列号为ix、jy，值为hy，定义最小、最大行号imin=imax=ix，定义最小、最大列号jmin=jmax=jy，定义最大深度hmax=hy； 步骤S33、之后再继续向右扫描，当相邻数据仍为非0值时，此时行号、列号为ix、jy+1，值为hy+1，则仍定义最小、最大行号imin=imax=ix，而定义最小列号为jmin=jy，最大列号jmax=jy+1；如hy+1＞hy，则定义hmax=hy+1；依次向右继续扫描，直至找到本行最后一个非0值时，此时行号、列号为ix、jy+t，则仍定义最小、最大行号imin=imax=ix，而定义最小列号仍为jmin=jy，最大列号jmax=jy+t；如hy至hy+t中hy+z1的值最大，则定义最大值为hmax=hy+z1； 步骤S34、以此方法继续对下一行进行扫描，扫描起始点行、列号为ix+1所在行，jy~jy+t所在列范围内的最左侧第一个非0值所在列，扫描方向分别以起始点向左扫描一次，向右扫描一次，如向左扫描到最左一个非0值的列号jy-m1≤jy，则定义最小列号jmin=jy-m1，如向右扫描最右一个非0值的列号jy+t+m2≥jy+t，则定义最大列号jmax=jy+t+m2；同时定义最小行号imin=ix，最大行号imax=ix+1；并在扫描过程中找到最大值，定义hmax=hy+z2； 步骤S35、以此类推逐行扫描，得到本腐蚀缺陷子矩阵的4个边界行列号，分别为最小行号imin=ix，最大行号imax=ix+k，最小列号jmin=jy-min1，最大列号jmax=jy+max1，及最大深度值hmax=hy+zk； 步骤S36、按此方法扫描腐蚀缺陷形貌时，当扫到腐蚀缺陷子矩阵的非0值为正值则表示为内腐蚀，此时腐蚀缺陷深度h值以找最大值hmax为目标；当扫到腐蚀缺陷子矩阵的非0值为负值则表示为外腐蚀，此时将腐蚀缺陷深度h值以找最小值hmin为目标，方法相同； 步骤S37、确定腐蚀缺陷长、宽、深参数：腐蚀缺陷轴向长度L为包含正或负数子矩阵范围的最大小行数之差加1，再乘轴向采样间隔，即：L=（i max -i min +1）×d 0 ；腐蚀缺陷宽度W为包含正或负数子矩阵范围的最大小列数之差加1，再乘周向采样间隔，即：W=（j max -j min +1）×d 1 ；内腐蚀深度hin即为正数子矩阵中的最大值hmax，外腐蚀深度h out 为负数子矩阵中最小值hmin； 同时记录腐蚀缺陷子矩阵最小、最大行号深度范围为dep1~dep2，即腐蚀缺陷所在深度范围为dep1~dep2； 重复上述步骤，对每个腐蚀缺陷进行逐一分析，即可确定各腐蚀缺陷的长、宽、深，以及所在井筒深度位置； 步骤S4、根据提取的套管内外腐蚀缺陷信息，依据分级原则对套管腐蚀缺陷进行分级。

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