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龙图腾网获悉西安电子科技大学广州研究院申请的专利一种针对存储模块故障注入集缩减的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114694735B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210255208.2，技术领域涉及：G11C29/10；该发明授权一种针对存储模块故障注入集缩减的方法是由刘毅;廖剑;徐长卿设计研发完成，并于2022-03-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对存储模块故障注入集缩减的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种针对存储模块故障注入集缩减的方法，涉及辐射效应仿真领域。使用预设的仿真测试程序对目标集成电路的存储模块进行测试，得到读写信息文件；使用预设的读写信息分析算法分析读写信息文件，确定存储模块在测试期间的无效注入时间区间；对故障注入集进行故障注入有效性分析，去除故障注入集中处于无效注入时间区间以及无效电路节点的注入故障，得到缩减后的故障注入集。通过存储模块的读写信息文件确定无效注入时间区间，去除故障注入集中处于无效注入时间区间以及无效电路节点的注入故障，从时间和空间两个维度缩减故障注入集，减少仿真时间成本，提高仿真效率。

本发明授权一种针对存储模块故障注入集缩减的方法在权利要求书中公布了：1.一种针对存储模块故障注入集缩减的方法，其特征在于，所述方法包括： 使用预设的仿真测试程序对目标集成电路的存储模块进行测试，得到所述存储模块的读写信息文件； 使用预设的读写信息分析算法分析所述读写信息文件，确定所述存储模块在测试期间的无效注入时间区间； 针对所述存储模块随机生成不同时间以及不同电路节点的注入故障，作为故障注入集； 对所述故障注入集进行故障注入有效性分析，去除所述故障注入集中处于所述无效注入时间区间以及无效电路节点的注入故障，得到缩减后的故障注入集；所述无效电路节点为所述目标集成电路中仿真测试程序未使用到的电路节点； 使用预设的读写信息分析算法分析所述读写信息文件，确定所述存储模块在测试期间的无效注入时间区间，包括： 使用预设的读写信息分析算法分析所述读写信息文件，获取所述存储模块中每个存储地址的读操作和写操作的时间区间，作为操作时间区间，并将测试期间除所述操作时间区间之外的时间区间作为间隔时间区间； 针对每个存储地址，确定所述写操作之前相邻的间隔时间区间，作为无效注入时间区间； 以所述存储模块的每一存储地址为键，以该存储地址的所述无效注入时间区间为值，生成无效哈希数组。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安电子科技大学广州研究院，其通讯地址为：510555 广东省广州市黄埔区中新知识城海丝中心B5、B6、B7栋；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。