中国科学院长春光学精密机械与物理研究所刘铭鑫获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种在双折射介质中非序列偏振光线追迹的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120491314B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510965330.2，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权一种在双折射介质中非序列偏振光线追迹的方法是由刘铭鑫;郭佳健;张新;史广维;吴洪波;赵尚男设计研发完成，并于2025-07-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种在双折射介质中非序列偏振光线追迹的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光线追迹技术领域，具体提供一种在双折射介质中非序列偏振光线追迹的方法，首先，明确双折射介质参数和入射光参数，其次，迭代计算入射光入射双折射介质后产生的透射光及反射光的波矢和折射率，然后利用奇异值分解计算透射光和反射光的偏振态，进一步计算透射光和反射光的传播方向、菲涅尔振幅系数、透射率和反射率，最终计算获得入射光的传播过程和光程，完成光线追迹。本发明方法能准确在双折射介质中对非序列偏振光线进行追迹，通用性强，追迹结果准确率高。
本发明授权一种在双折射介质中非序列偏振光线追迹的方法在权利要求书中公布了：1.一种在双折射介质中非序列偏振光线追迹的方法，其特征在于，包括： S1：依据双折射介质参数和入射光参数，迭代计算所述入射光入射双折射介质后产生的透射光及反射光的波矢和折射率； 所述迭代计算过程为： S1.1：选择折射率作为初始估计值，其中，为待计算光线所在介质的x轴主介电常数； S1.2：计算偏向常数； S1.3：依据所述偏向常数，计算全局坐标系下的波矢； S1.4：计算全局坐标系下的波矢在晶体光轴局部坐标系下的投影； S1.5：构造关于的一元二次方程； S1.6：解出的新值，取正数； S1.7：重复步骤S1.2~步骤S1.6，直到收敛，当折射率稳定到以内，则认为收敛； S2：利用奇异值分解计算所述透射光和反射光的偏振态； S3：计算所述透射光和反射光的传播方向； S4：计算透射光和反射光的菲涅尔振幅系数，计算透射率或反射率； S5：计算所述入射光的传播过程和光程。
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