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龙图腾网获悉浙江大学绍兴研究院申请的专利一种涂层残余应力的太赫兹检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119714642B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411843715.3，技术领域涉及：G01L5/00；该发明授权一种涂层残余应力的太赫兹检测方法是由柯琳;宋云鹤;赵利霞设计研发完成，并于2024-12-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种涂层残余应力的太赫兹检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种涂层残余应力的太赫兹检测方法，包括步骤S1：通过太赫兹波探测器将太赫兹波投射到待测涂层的表面并收集第一批光谱；步骤S2：对涂层施加应力；步骤S3：通过太赫兹波探测器将太赫兹波投射到待测涂层的表面并收集第二批光谱；步骤S4：绘制频谱图；步骤S5：识别共振峰；步骤S6：峰值分析；步骤S7：比较和参考；步骤S8：峰值分配；步骤S9：应力计算。本发明公开的一种涂层残余应力的太赫兹检测方法，克服现有技术中残余应力检测主要还是依赖于有损方法，检测精度不够的问题。

本发明授权一种涂层残余应力的太赫兹检测方法在权利要求书中公布了：1.一种涂层残余应力的太赫兹检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1：通过太赫兹波探测器将太赫兹波投射到待测涂层的表面并收集第一批光谱，从而获得包括光路长度L0、折射率n0和峰值频率f0的第一信息，转动涂层或者转动太赫兹波探测器一侧的偏振片角度，收集对应的第一光谱数据，并且将待测涂层的第一光谱数据存储在数据库中； 步骤S2：对涂层施加应力，以模拟飞行环境中的相关影响； 步骤S3：通过太赫兹波探测器将太赫兹波投射到待测涂层的表面并收集第二批光谱，从而获得包括光路长度L1、折射率n1和峰值频率f1的第二信息，转动涂层或者转动太赫兹波探测器一侧的偏振片角度，收集对应的第二光谱数据，并且将待测涂层的第二光谱数据存储在数据库中； 步骤S4：绘制频谱图，根据频率轴绘制振幅或强度频谱，从而获得太赫兹TDS频谱的图形表示； 步骤S5：识别共振峰，在频谱中寻找突出的峰值； 步骤S6：峰值分析，通过确定共振峰的频率、振幅和形状来分析共振峰，使用峰值拟合算法或数学建模技术来准确提取相关特征，并计算光路长度变化ΔL及频率变化Δf； 步骤S7：比较和参考，将观测到的共振峰与相关参考资料进行比较； 步骤S8：峰值分配，根据共振峰的频率和所研究材料或分子的已知光谱特征，将共振峰分配给特定的振动或电子跃迁； 步骤S9：应力计算，通过测量涂层在不同应变条件下的太赫兹光谱数据，绘制太赫兹峰的频移曲线，通过分析频移曲线，计算出应力对分子振动频率的影响，从而推断涂层中的应力状态，通过与数据库比较分析涂层劣化情况并提取共振峰变化，结合材料参数计算残余应力，计算方法为： σr＝Eεr； 其中，σr为材料的残余应力，E为材料的弹性模量，εr为残余应变； 残余应变的计算方法为： εr＝Δff0； 其中，Δf＝f1-f0，是施加应力前后频率的变化量，f0为无应力条件下的初始振动频率。

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