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龙图腾网获悉首钢智新迁安电磁材料有限公司申请的专利快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116297459B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310372014.5，技术领域涉及：G01N21/84；该发明授权快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法是由刘兆月;马家骥;王明;王现辉;黎先浩;王旭设计研发完成，并于2023-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法。该方法包括：通过对取向硅钢成品表面进行处理，得到光亮且平整的金属基体，并通过扫描仪得到所述金属基体中晶粒的扫描照片；通过将所述扫描照片设置为灰度模式，确定所述晶粒的平均灰度值，并根据所述平均灰度值，确定所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角，以确定所述晶粒的晶面密勒指数；通过粉纹法对所述晶粒的磁畴进行观测，获得所述晶粒的磁畴壁与轧向的夹角；根据所述晶面密勒指数，以及所述磁畴壁与轧向的夹角，确定晶粒密勒指数，从而实现快速测量取向硅钢成品的晶粒取向。本申请提供的技术方案能够实现快速测量取向硅钢成品晶粒取向。

本发明授权快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法在权利要求书中公布了：1.一种快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法，其特征在于，所述方法包括： 通过对取向硅钢成品表面进行处理，得到光亮且平整的金属基体，并通过扫描仪得到所述金属基体中晶粒的扫描照片； 通过将所述扫描照片设置为灰度模式，确定所述晶粒的平均灰度值，并根据所述平均灰度值，确定所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角，以确定所述晶粒的晶面密勒指数； 通过粉纹法对所述晶粒的磁畴进行观测，获得所述晶粒的磁畴壁与轧向的夹角； 根据所述晶面密勒指数，以及所述磁畴壁与轧向的夹角，确定晶粒密勒指数，从而实现快速测量取向硅钢成品的晶粒取向； 其中，所述通过对取向硅钢成品表面进行处理，得到光亮且平整的金属基体，包括：将所述取向硅钢成品放入质量浓度为10%~40%的盐酸水溶液中浸泡，且浸泡时间大于3min，且所述盐酸水溶液温度为40℃~70℃；在对所述取向硅钢成品腐蚀完成后，依次使用质量浓度为10%~30%的碳酸钠水溶液，去离子水，以及无水乙醇清洗1~2遍，并冷风吹干，从而得到光亮且平整的金属基体； 其中，所述根据所述平均灰度值，确定所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角，以确定所述晶粒的晶面密勒指数，包括：构建所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角与图像灰度值的关系图，根据所述平均灰度值，确定所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角；根据所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角，以及所述取向硅钢成品中的织构种类，确定所述晶粒的晶面密勒指数； 其中，所述取向硅钢成品中的织构种类包括{110}~{210}面织构。

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