电子科技大学余承勇获国家专利权
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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116027116B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310111836.8,技术领域涉及:G01R27/26;该发明授权基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置是由余承勇;乔曼;冉璇;程锦;冯天琦;李灿平;高冲;张云鹏;高勇;郑虎;李恩设计研发完成,并于2023-02-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置在说明书摘要公布了:本发明属于微波测试技术领域,具体提供一种基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置,用以解决传统介质谐振器测量介质材料的复介电常数时工作模式较少的问题。本发明包括:上金属板、下金属板、介质材料、同心装置、上耦合探针、下耦合探针以及探针调节装置,介质材料设置于上、下金属板之间,三者通过同心装置形成同心结构的介质谐振器,上、下金属板的中心位置均开设耦合通孔,对应匹配设置上、下耦合探针;介质谐振器采用位于上、下金属板外表面上、下表面的探针耦合的方式,激励起TM0np模式;基于该谐振器进行微波介质材料的复介电常数测试时,既能实现高精度测试,由能够进行多模工作。
本发明授权基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置在权利要求书中公布了:1.基于TM0np模平行平板介质谐振器的介电常数测试装置,包括:谐振器上金属板、谐振器下金属板、介质材料、谐振器同心装置、上耦合探针、下耦合探针以及探针调节装置;其特征在于,所述介质材料设置于谐振器上金属板与谐振器下金属板之间,三者通过谐振器同心装置形成同心结构、且共同构成介质谐振器;所述谐振器上金属板与谐振器下金属板的中心位置均开设耦合通孔,对应匹配设置上耦合探针与下耦合探针;所述上耦合探针与下耦合探针连接探针调节装置。
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