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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利存储设备的性能测试方法及装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120564815B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511064253.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储设备的性能测试方法及装置、电子设备和存储介质是由马亚新;任敬路设计研发完成，并于2025-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储设备的性能测试方法及装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种存储设备的性能测试方法及装置、电子设备和存储介质，涉及数据存储技术领域，包括响应于测试输入，控制存储设备执行数据操作；其中，数据操作包括读操作和或写操作；在存储设备执行数据操作的过程中，通过性能测试模型获取存储设备的性能数据；其中，性能数据包括存储设备的数据链路的性能数据和存储控制器的性能数据，存储控制器通过数据链路与存储设备电连接，数据链路用于在存储控制器和存储设备之间传输数据，性能测试模型包括至少一个性能监测工具，至少一个性能监测工具用于对数据链路和存储控制器进行性能监测据；根据性能数据生成存储设备的性能测试报告。能够达到提高存储设备的性能测试效率的技术效果。

本发明授权存储设备的性能测试方法及装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储设备的性能测试方法，其特征在于，所述方法包括： 响应于测试输入，控制所述存储设备执行数据操作；其中，所述数据操作包括读操作和或写操作； 在所述存储设备执行所述数据操作的过程中，通过性能测试模型获取所述存储设备的性能数据；其中，所述性能数据包括所述存储设备的数据链路的性能数据和存储控制器的性能数据，所述存储控制器通过所述数据链路与所述存储设备电连接，所述数据链路用于在所述存储控制器和所述存储设备之间传输数据，所述性能测试模型包括至少一个性能监测工具，所述至少一个性能监测工具用于对所述数据链路和所述存储控制器进行性能监测； 根据所述性能数据生成所述存储设备的性能测试报告； 其中，所述控制所述存储设备执行数据操作，包括： 控制所述存储设备执行所述数据操作，以使所述存储设备的负载量达到第一负载量； 基于预设增长速率将所述存储设备的负载量增加至第二负载量； 所述获取所述存储设备的性能数据，包括： 在所述存储设备的负载量达到所述第二负载量的情况下，获取所述数据链路的链路带宽； 在所述链路带宽小于带宽阈值的情况下，获取所述数据链路的链路速率和所述存储设备的温度值； 所述根据所述性能数据生成所述存储设备的性能测试报告的步骤，包括： 在所述链路速率小于速率阈值，且所述温度值小于温度阈值的情况下，生成第一性能测试报告；其中，所述第一性能测试报告用于提示所述存储设备的硬件性能降低； 在所述链路速率小于所述速率阈值，且所述温度值大于或等于所述温度阈值的情况下，生成第二性能测试报告：其中，所述第二性能测试报告用于提示所述存储设备过热。

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