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龙图腾网获悉苏州猎奇智能设备股份有限公司申请的专利一种光通信芯片测试设备及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120394397B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510898112.1，技术领域涉及：B07C5/344；该发明授权一种光通信芯片测试设备及方法是由李文明;徐凯;刘双设计研发完成，并于2025-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光通信芯片测试设备及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光通信芯片测试技术领域，并且公开了一种光通信芯片测试设备及方法，包括搬运模组、载具模组和测试模组，各模组又分别包括对应的模块和机构，待测芯片通过搬运模组从所述供料模块转运至所述测试载台上完成多项测试后，再通过所述搬运模组将芯片从测试载台转运至所述存储模块分类存储；本发明将芯片的相干测试项目集中在一台设备上进行，并通过各模组和模块之间的配合协作，实现芯片的上料、测试及下料分类存储的自动操作，不仅能避免人工操作因素影响芯片测试的合格率，而且极大提高了整体生产效率，降低生产成本，同时提高了分类存储的效率，无需等多个设备测试完才能整理数据分类。

本发明授权一种光通信芯片测试设备及方法在权利要求书中公布了：1.一种光通信芯片测试设备，其特征在于：包括用于转运芯片的搬运模组，所述搬运模组的下方相对设置有载具模组和测试模组； 所述测试模组包括耦合台模块、探针模块、耦合测试模块以及用于驱动所述耦合台模块水平移动的移载模块，所述耦合台模块位于所述移载模块的上方，且所述探针模块和所述耦合测试模块相邻分布于所述移载模块的两侧； 所述耦合台模块包括用于安装芯片的测试载台，所述测试载台的底部设置有用于温度循环测试的温控模块，所述温控模块与所述移载模块的输出端相连，且所述移载模块的输出端与所述温控模块之间设置有用于调节芯片位姿的第一调节机构； 所述探针模块包括位于所述测试载台上方的探针卡，所述探针卡的底部设置有多组用于测试芯片不同性能的探针； 所述测试模组还包括底座，所述耦合测试模块和所述移载模块均安装于所述底座上，且所述底座上还设置有测试支架，所述测试支架上安装有Z轴驱动机构，所述Z轴驱动机构的输出端连接有用于调整所述探针卡位姿的第二调节机构，且所述探针卡安装于所述第二调节机构的输出端； 所述载具模组上设置有供料模块和存储模块，待测芯片通过搬运模组从所述供料模块转运至所述测试载台上完成多项测试后，再通过所述搬运模组将芯片从测试载台转运至所述存储模块分类存储。

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