北京华大九天科技股份有限公司龚贵琴获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉北京华大九天科技股份有限公司申请的专利影响系数的确定方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118070720B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410198920.2，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权影响系数的确定方法、装置、计算机设备及存储介质是由龚贵琴设计研发完成，并于2024-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本影响系数的确定方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开是关于一种影响系数的确定方法、装置、计算机设备及存储介质。影响系数的确定方法包括：获取第一预设参数的第一参数值和第二预设参数的第二参数值，根据第一参数值和第二参数值，确定第三预设参数的第三参数值；响应于第一参数值、第二参数值和第三参数值适合于第一线性回归模型的拟合，根据第一线性回归模型对第一参数值、第二参数值和第三参数值的拟合结果，确定目标拟合结果；根据目标拟合结果，确定第一预设参数和第二预设参数对第三预设参数的影响系数。该方法能够直观看出同一晶圆区域上相同元器件由于工艺制造引入的随机偏差和不同晶圆之间的工艺角偏差对集成电路芯片的影响程度，以确保设计的电路在流片出来仍然能够满足性能要求。
本发明授权影响系数的确定方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种影响系数的确定方法，其特征在于，所述方法包括： 获取第一预设参数的第一参数值和第二预设参数的第二参数值，所述第一预设参数表征芯片仿真后同一晶圆区域上的相同元器件之间的随机偏差参数，所述第二预设参数表征所述芯片仿真后不同晶圆之间的工艺角偏差参数； 根据所述第一参数值和所述第二参数值，确定第三预设参数的第三参数值，所述第三预设参数表示集成电路中预设表达式的计算结果，所述预设表达式用于计算集成电路中某一个支路的电压、电流；所述第三预设参数与所述第一预设参数和所述第二预设参数相关； 响应于所述第一参数值、所述第二参数值和所述第三参数值适合于第一线性回归模型的拟合，根据第一线性回归模型对所述第一参数值、所述第二参数值和所述第三参数值的拟合结果，确定目标拟合结果； 根据所述目标拟合结果，确定所述第一预设参数和所述第二预设参数对所述第三预设参数的影响系数。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京华大九天科技股份有限公司，其通讯地址为：100102 北京市朝阳区利泽中二路2号A座二层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励