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上海交通大学李洪婧获国家专利权

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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利基于光强探测弱测量技术的最优相位补偿方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119334480B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310884402.1,技术领域涉及:G01J9/00;该发明授权基于光强探测弱测量技术的最优相位补偿方法及系统是由李洪婧;宋琦;曾贵华;罗忠源;李月刚;黄靖正设计研发完成,并于2023-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。

基于光强探测弱测量技术的最优相位补偿方法及系统在说明书摘要公布了:本发明提供了一种基于光强探测弱测量技术的最优相位补偿方法,包括如下步骤:步骤S1:搭建基于光强探测的时变参量实时估计的量子弱测量光学平台,通过施加外部信号,确定时变相位的最优的参考相位的调节区间;步骤S2:开始测量,计算当前时刻的时变相位估计值;步骤S3:根据步骤S1设定的最优的参考相位的调节区间和步骤S2的计算结果,调节相关参数,使当前时刻的时变相位估计值工作在最优的区间;步骤S4:重复步骤S2、步骤S3,实现对时变相位的实时最优估计;步骤S5:待测量结束;进一步优化了基于弱测量技术的时变参量估计方案的调整方法,能够最优精度,能够实现最佳的相位放大倍数和最优精度的相位估计。

本发明授权基于光强探测弱测量技术的最优相位补偿方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于光强探测弱测量技术的最优相位补偿方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤S1:搭建基于光强探测的时变参量实时估计的量子弱测量光学平台,通过施加外部信号,确定时变相位的最优的参考相位的调节区间; 步骤S2:开始测量,计算当前时刻的时变相位估计值; 步骤S3:根据步骤S1设定的最优的参考相位的调节区间和步骤S2的计算结果,调节相关参数,使当前时刻的时变相位估计值工作在最优的区间; 步骤S4:重复步骤S2、步骤S3,实现对时变相位的实时最优估计; 步骤S5:待测量结束; 所述步骤S1包括: 步骤S1.1:将外部信号引入光学平台,得出不同参考相位下的线性区间; 步骤S1.2:根据测定的不同参考相位下的线性区间,确定引入不同大小时变相位对应的最佳参考相位调节点 步骤S1.3:根据外部信号的变化程度确定不同的相位所容许的相位调节范围即可确定最优的参考相位调节区间 所述步骤S1中的光学平台包括双路实时探测弱测量平台和单路实时单探测弱测量平台, 对于双路实时光强探测弱测量,光源1发射的光经过前选择过程被调制成预设的前选择态,然后在相互作用过程产生因外部信号作用产生的时变相位再经过分束器2被分成两路光:第一路光和第二路光;第一路光经过第一参考相位进行相位调节;经过第一后选择过程,在预设的后选择态上进行投影测量,第二路光经过反射镜3后,再经过第二参考相位进行相位调节;经过第二后选择过程在预设的后选择态上进行投影测量;最后两路光被平衡探测器4接收进行强度探测及数据处理,所述第一参考相位、第二参考相位及平衡探测器分别连接计算机5; 其中,第一参考相位和第二参考相位互为相反数,即绝对值相等,二者绝对值记为第一后选择过程与前选择过程的夹角为ε11、第二后选择过程与前选择过程的夹角为ε12,其中,ε11与ε12互为相反数,ε1=|ε11|=|ε12|; 对于单路实时探测弱测量平台,光源1发射的光经过分束器2被分成两路光:第一路光和第二路光;第一路光经过前选择过程2被调制成预设的前选择态;然后在相互作用过程产生因外部信号作用产生的相位经过第三参考相位进行相位调节,经过第三后选择过程,在预设的后选择态上进行投影测量;最后被第一光电探测器6接收进行强度探测,第二路光被第二光电探测器7接收进行强度探测,计算机5对第一光电探测器6和第二光电探测器7接收到的光进行数据处理;所述第三参考相位、第一光电探测器6、第二光电探测器7分别连接计算机5;其中,第三参考相位,记为第三后选择过程和前选择过程的夹角记为ε2; 所述步骤S2中, 引入未知外部信号,产生待测的时变相位参量;采用弱测量系统进行测量时变相位参量,并根据当前时刻的时变相位参量的测定值,计算当前时刻的时变相位估计值; 对于双路实时光强探测弱测量,观测指标 其中,I0为光源光强,I1t、I2t分别为第一路、第二路探测光强;在tj时刻下,时变相位估计值 对于单路实时光强探测弱测量,观测指标 It为探测光强;在tj时刻下,时变相位估计值

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海交通大学,其通讯地址为:200240 上海市闵行区东川路800号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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