长鑫存储技术有限公司周成功获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利存储器测试方法、装置与测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119207533B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310738724.5，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储器测试方法、装置与测试设备是由周成功;黄建钦;柯卫宝设计研发完成，并于2023-06-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器测试方法、装置与测试设备在说明书摘要公布了：本公开提供一种存储器测试方法、装置与测试设备，应用于集成电路制造技术领域。存储器测试方法包括：响应数据写入指令，获取一或多个目标地址位的数值，所述数据写入指令包括行地址和列地址，所述目标地址位为所述行地址的某一位或者所述列地址的某一位；根据所述一或多个目标地址位的数值在一或多个寄存器中确定一个目标寄存器，每个所述寄存器均预先存储有测试数据，不同寄存器存储的测试数据不同；将所述目标寄存器内的测试数据写入所述行地址和所述列地址对应的存储单元。本公开实施例可以提高存储器测试效率。
本发明授权存储器测试方法、装置与测试设备在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试方法，其特征在于，应用于存储器的测试设计测试阶段，包括： 响应数据写入指令，获取一或多个目标地址位的数值，所述数据写入指令包括行地址和列地址，所述目标地址位为所述行地址的某一位或者所述列地址的某一位； 根据所述一或多个目标地址位的数值在一或多个寄存器中确定一个目标寄存器，每个所述寄存器均预先存储有测试数据，不同寄存器存储的测试数据不同； 将所述目标寄存器内的测试数据写入所述行地址和所述列地址对应的存储单元。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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