河北北芯半导体科技有限公司;中国电子科技集团公司第十三研究所安伟获国家专利权
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龙图腾网获悉河北北芯半导体科技有限公司;中国电子科技集团公司第十三研究所申请的专利一种二极管电参数测试能力验证装置及其制备方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116165498B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310165079.2，技术领域涉及：G01R31/20；该发明授权一种二极管电参数测试能力验证装置及其制备方法是由安伟;桂明洋;迟雷;刘涛;陈龙坡;焦龙飞;沈彤茜;彭浩;周晓黎设计研发完成，并于2023-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种二极管电参数测试能力验证装置及其制备方法在说明书摘要公布了：本申请适用于半导体性能参数测试技术领域，提供了一种二极管电参数测试能力验证装置及制备方法，该装置包括：被测二极管、壳体和散热结构；被测二极管被紧固螺钉固定在散热结构上；壳体利用平行封焊与散热结构焊接在一起，壳体和散热结构将被测二极管的主体部分包覆；壳体的下盖片上设置有第一通孔；被测二极管的两只测试管脚穿过第一通孔置于壳体的外部；第一通孔限制被测二极管沿绕着紧固螺钉方向上的转动；被测二极管与下盖片的第一通孔处设置密封胶，紧固螺钉与散热结构的连接处设置密封胶；密封胶用于对壳体的内部进行密封。本申请能够使参加测试能力验证的实验室可参照与平时相同的测试方法和程序测试参数，且兼顾保密性和安全性。
本发明授权一种二极管电参数测试能力验证装置及其制备方法在权利要求书中公布了：1.一种二极管电参数测试能力验证装置，其特征在于，包括：被测二极管、壳体和散热结构； 所述被测二极管被紧固螺钉固定在所述散热结构上； 所述壳体利用平行封焊与所述散热结构焊接在一起，所述壳体和所述散热结构将所述被测二极管的主体部分包覆；所述壳体的下盖片上设置有第一通孔； 所述被测二极管的两只测试管脚穿过所述第一通孔置于所述壳体的外部；所述第一通孔限制所述被测二极管沿绕着所述紧固螺钉方向上的转动； 所述被测二极管与所述下盖片的第一通孔处设置密封胶，所述紧固螺钉与所述散热结构的连接处设置所述密封胶；所述密封胶用于对所述壳体的内部进行密封。
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