北京航空航天大学陆吉玺获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于多通气室的无自旋交换弛豫原子磁强计检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116165579B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310172232.4，技术领域涉及：G01R33/032；该发明授权基于多通气室的无自旋交换弛豫原子磁强计检测装置是由陆吉玺;戚一搏;王淑莹;逯斐;徐诺舟;全伟设计研发完成，并于2023-02-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于多通气室的无自旋交换弛豫原子磁强计检测装置在说明书摘要公布了：基于多通气室的无自旋交换弛豫原子磁强计检测装置，可增大旋光角信号，提高检测灵敏度，以克服现有技术中的不足，其特征在于，包括分布在气室检测光入射侧和检测光出射侧的双光楔和双反射镜组合，所述双光楔和双反射镜组合使得单一检测光形成多通气室的“又”字形多程光路以通过提高磁致旋光角大小实现极微弱磁场的测量。
本发明授权基于多通气室的无自旋交换弛豫原子磁强计检测装置在权利要求书中公布了：1.基于多通气室的无自旋交换弛豫原子磁强计检测装置，其特征在于，包括分布在气室检测光入射侧和检测光出射侧的双光楔和双反射镜组合，所述双光楔和双反射镜组合使得单一检测光形成多通气室的“又”字形多程光路以通过提高磁致旋光角大小实现极微弱磁场的测量； 所述双光楔和双反射镜组合包括位于气室检测光入射侧的第1光楔和第2反射镜，以及位于气室检测光出射侧的第2光楔和第1反射镜，所述第1光楔使入射的x轴向检测光出射为向上斜穿气室检测光并入射到第1反射镜，所述第1反射镜将所述向上斜穿气室检测光反射为平行反穿气室检测光并入射到第2反射镜，所述第2反射镜将所述平行反穿气室检测光反射为向下斜穿气室检测光并入射到第2光楔，所述第2光楔使入射的所述向下斜穿气室检测光调整为出射的x轴向检测光； 所述第1光楔将水平入射的检测光偏转8°入射，所述第1反射镜和所述第2反射镜均与z轴方向的夹角为4°。
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