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龙图腾网获悉中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)申请的专利一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115825683B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211636761.7，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路是由袁锟;王明康;潘朋涛;罗健明;邓丹;李珏;杨超平设计研发完成，并于2022-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路在说明书摘要公布了：一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路，属于半导体分立器件领域。所述方法包括：根据半导体分立器件的特性设计器件老化电路模块，在器件老化电路模块与电源的连接通路中设置恒流限流电路，在器件老化电路与电源的连接通路中设置器件老化状况显示电路，在器件老化电路与电源的连接通路中设置电流流向控制电路，通过电源极性对调即可改变流经器件的电流方向。所述电路包括：正电源、负电源、正向恒流模块、负向恒流模块、正向导通模块、反向导通模块、正向显示模块、反向显示模块、电路模块，按电路原理结构进行连接。解决现有半导体分立器件高温反偏老化采用保险管造成的可靠性问题。广泛应用于半导体分立器件的高温反偏老化领域。

本发明授权一种半导体分立器件可靠性试验电路设计方法及其电路在权利要求书中公布了：1.一种半导体分立器件可靠性试验电路，其特征在于，采用如下具体设计方法： （1）根据半导体分立器件的特性设计器件老化电路模块； （2）在器件老化电路模块与电源的连接通路中，设置恒流限流电路，代替传统的保险管，提高反应速度； （3）在器件老化电路与电源的连接通路中，设置器件老化状况显示电路，根据器件在老化过程中质量的变化状况，进行不同的显示，提高过程直观监测能力，所述显示包括声音或视觉感观； （4）在器件老化电路与电源的连接通路中，设置电流流向控制电路，对双向或多向器件的各向功能进行老化测试； （5）器件老化电路模块通过恒流限流电路、器件老化状况显示电路，极性对称地连接到正电源与负电源或地之间，通过电源极性对调即可改变流经器件的电流方向； 所述负电源包括地； 采用所述设计方法的可靠性试验电路包括：正电源、负电源、正向恒流模块、负向恒流模块、正向导通模块、反向导通模块、正向显示模块、反向显示模块、电路模块； 所述正电源与正向恒流模块的正极连接，正向恒流模块的负极与正向显示模块的正极连接，正向显示模块的负极与电路模块设定的连接端连接； 所述正电源与反向导通模块的负端连接，反向导通模块的正端正向显示模块的负端连接； 所述负电源与反向恒流模块的正极连接，反向恒流模块的负极与反向显示模块的正极连接，反向显示模块的负极与电路模块设定的连接端连接； 所述负电源与正向导通模块的负端连接，正向导通模块的正端与反向显示模块的负端连接； 所述负电源与正电源可根据待测器件的双向极性对调； 所述电路模块包含待测器件； 所述正电源为直流电源，负电源接地； 所述正向恒流模块和负向恒流模块采用恒流二极管； 所述正向导通模块和反向导通模块采用整流二极管； 所述电路模块为相关连接线、待测器件夹具及待测器件； 通过对电源接口的对调，即可实现电流方向的转换； 对于多路阵列器件的高温反偏试验，将若干个单元电路并联在一起，即可实现多路阵列器件的高温反偏试验。

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