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龙图腾网获悉北京大学申请的专利一种基于多尺度基的荧光图像解卷积方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115641278B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211421992.6，技术领域涉及：G06T5/70；该发明授权一种基于多尺度基的荧光图像解卷积方法是由席鹏;侯宜伟设计研发完成，并于2022-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于多尺度基的荧光图像解卷积方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于多尺度基的荧光图像解卷积方法。本发明首次从多分辨率分析的角度出发根据生物荧光图像几何形状鲜明信息较多的特点设计了正则项，构建了相应的解卷积算法，具备更优的降噪和解卷积能力；同时对于时间序列图像，本发明通过先时域再空域再时域的解卷积方法，不追求一次性地完成降噪，而是根据不同小波基的特点分步进行降噪和去模糊，在具备较强降噪能力的同时有更好的分辨率保持能力；同时通过三维小波充分利用了样品序列的三维连续信息，结合了三维可分离变换与不可分离变换的优劣所在，设计了更优的降噪流程。

本发明授权一种基于多尺度基的荧光图像解卷积方法在权利要求书中公布了：1.一种基于多尺度基的荧光图像解卷积方法，对于只包含空间平面信息的二维荧光显微图像，其特征在于，所述荧光图像解卷积方法包括以下步骤： 1获取原始二维荧光图像： 通过光学显微镜采集得到原始二维荧光图像，然后对原始二维荧光图像做归一化处理，得到归一化的原始二维荧光图像； 2基于分段线性框架小波和曲线波的联合稀疏正则对原始二维荧光图像解卷积： i.根据成像过程中所用到的照明光的波长和传感器的像素尺寸和数值孔径，利用相应的理论拟合公式计算得到用于解卷积的点扩散函数；或采用成像过程中实际测量得到的点扩散函数构建用于解卷积的点扩散函数；然后对点扩散函数做归一化处理， 得到归一化的点扩散函数； ii.分别建立二维的分段线性框架小波和二维的曲线波； iii.构建解卷积模型如下： 其中，第一项是保真项，确保了解卷积算法的保真性，b为归一化的原始二维荧光图像，f为解卷积迭代后的图像，A为点扩散函数的矩阵形式，算符W表示二维的分段线性框架小波正变换，算符C表示二维的曲线波正变换，λ1和λ2是两个正则参数，||1和||2分别表示一范数和二范数； iv.基于快速软阈值滤波迭代FISTA方法求解上述解卷积模型，得到解卷积迭代后的图像； 3空域优化： 对于解卷积迭代后的图像，进行理查德森·露西解卷积迭代优化，得到解卷积优化的图像。

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