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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利微型干涉光谱仪及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115219029B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210816098.2，技术领域涉及：G01J3/45；该发明授权微型干涉光谱仪及其测量方法是由吕金光;梁静秋;赵百轩;郑凯丰;赵莹泽;陶金;王惟彪;秦余欣设计研发完成，并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本微型干涉光谱仪及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种微型干涉光谱仪及其测量方法，其中的光谱仪包括：光源系统、相位调制系统、数字微镜阵列和探测器系统；光源系统用于发出一束平行光束，经过相位调制系统的分布式相位调制后得到由N×N个光场单元组成的光场阵列；数字微镜阵列用于对光场阵列进行选通，使至少两个光场单元入射至探测器系统中发生干涉，得到干涉图信号，获取平行光束的光谱信息。本发明避免了传统傅里叶变换光谱仪中动镜扫描的高精度制作与控制问题。采用驱动电压对数字微镜阵列的各数字微镜单元进行开关扫描，无需分束系统，减小了系统的体积和重量，提高了系统的能量利用率。

本发明授权微型干涉光谱仪及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种微型干涉光谱仪，其特征在于，包括：光源系统、相位调制系统、数字微镜阵列和探测器系统； 所述光源系统用于发出一束平行光束，经过所述相位调制系统的分布式相位调制后得到由N×N个光场单元组成的光场阵列；所述数字微镜阵列用于对所述光场阵列进行选通，使两个所述光场单元入射至所述探测器系统中发生干涉，得到干涉图信号，获取所述平行光束的光谱信息； 所述相位调制系统包括：纵向阶梯微镜和横向阶梯微镜；所述平行光束依次经过所述纵向阶梯微镜和所述横向阶梯微镜的透射后形成由N×N个光场单元组成的光场阵列入射至所述数字微镜阵列中； 所述纵向阶梯微镜由N个阶梯方向垂直于水平面的列阶梯单元组成；所述列阶梯单元方向垂直于水平面； 所述平行光束在沿水平方向的第i个列阶梯单元中传输时产生的光程延迟量为：； 其中，i=0,1,2,…,N-1；n为所述纵向阶梯微镜材料的折射率；d为所述列阶梯单元的高度，N为所述列阶梯单元级数； 所述横向阶梯微镜由N个阶梯方向平行于水平面的行阶梯单元组成；所述行阶梯单元方向均平行于水平面； 所述平行光束在沿垂直方向的第j个行阶梯单元中传输时产生的光程延迟量为：； 其中，j=0,1,2,…,N-1；n为所述横向阶梯微镜材料的折射率；h为所述行阶梯单元的高度，N为所述行阶梯单元级数； 所述横向阶梯微镜和纵向阶梯微镜的阶梯单元高度满足如下关系： ， 其中，λmin为所述平行光束中的最小波长； 数字微镜阵列由N×N个数字微镜单元组成； 所述数字微镜阵列对所述光场阵列进行选通的过程为：通过对所述数字微镜阵列的驱动电压进行控制，进而控制所述数字微镜单元的旋转角度，使在同一时刻内，数字微镜单元0,0和数字微镜单元i,j所对应的光场阵列中的光场单元的两束光束入射至所述探测器系统，其中i、j不同时为0； 经所述数字微镜阵列选通的两束光束具有预设光程差，通过对所述数字微镜阵列的控制依次选通光程差线性递增的两束光束入射至所述探测器系统。

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