美光科技公司A·巴德瓦杰获国家专利权
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龙图腾网获悉美光科技公司申请的专利用于重新映射存储器子系统中的不良块的系统和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115145755B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210342434.4,技术领域涉及:G06F11/07;该发明授权用于重新映射存储器子系统中的不良块的系统和方法是由A·巴德瓦杰设计研发完成,并于2022-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于重新映射存储器子系统中的不良块的系统和方法在说明书摘要公布了:本公开涉及用于重新映射存储器子系统中的不良块的系统和方法。公开一种系统,其包含:存储器装置,其包含多个存储器平面;以及处理装置,其以操作方式与所述存储器装置耦合以执行包括以下的操作:产生所述存储器装置的块条带,其中所述块条带包含跨越所述多个存储器平面布置的多个块;确定所述块条带的所述多个块中的第一块与错误条件相关联,其中所述第一块与所述多个平面中的第一平面相关联;以及响应于确定所述块条带的所述多个块中的所述第一块与所述错误条件相关联,对所述多个块执行错误恢复操作以利用所述块条带中的替换块替换所述第一块。
本发明授权用于重新映射存储器子系统中的不良块的系统和方法在权利要求书中公布了:1.一种系统,其包含: 存储器装置,其包含多个存储器平面;以及 处理装置,其可操作地与所述多个存储器平面耦合,其中所述处理装置经配置以: 产生所述存储器装置的块条带,其中所述块条带包含跨越所述多个存储器平面布置的多个块; 确定所述块条带的所述多个块中的第一块与错误条件相关联,其中所述第一块与所述多个平面中的第一平面相关联;以及 响应于确定所述块条带的所述多个块中的所述第一块与所述错误条件相关联,对所述多个块执行错误恢复操作以利用所述块条带中的替换块替换所述第一块。
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