新思科技有限公司J·勒获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉新思科技有限公司申请的专利用于使用相关样本生成及高效统计模拟来计算时序良率及良率瓶颈的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113474780B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080015783.4，技术领域涉及：G06F30/3315；该发明授权用于使用相关样本生成及高效统计模拟来计算时序良率及良率瓶颈的方法是由J·勒;W·柴;L·丁设计研发完成，并于2020-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于使用相关样本生成及高效统计模拟来计算时序良率及良率瓶颈的方法在说明书摘要公布了：本发明公开用于确定参数时序良率及瓶颈的方法及设备的各种实施例，所述方法及设备通过设计中的集成电路芯片的共同时序弧考虑电路路径之间的相关性。时序弧延迟的蒙特卡罗样本经生成并用于计算时序良率且识别良率瓶颈。
本发明授权用于使用相关样本生成及高效统计模拟来计算时序良率及良率瓶颈的方法在权利要求书中公布了：1.一种用于计算具有多个时序弧及端点、所述时序弧的多个子集的集成电路IC的时序良率的方法，每一子集与端点相关联，所述方法包括： a生成与第一IC样本的每一时序弧相关联的速度指数以确定随机延迟值，其中相同的所述速度指数用于共同时序弧以确定与所述第一IC样本的所述共同时序弧相关的信号路径的所述随机延迟值； b基于相关联的所述速度指数、所述时序弧的延迟分布及路径上下文来生成所述第一IC样本的每一时序弧的第一延迟样本； c确定所述第一IC样本的每一端点的松弛度； d确定针对所述第一IC样本确定的所述松弛度当中的最差松弛度； e针对多个IC样本重复a到d；及 f基于具有非负值的经确定的最差松弛度的数目的相对于IC样本的总数目的比率确定所述IC的时序良率。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人新思科技有限公司，其通讯地址为：美国加利福尼亚州；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由AI智能生成
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号