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龙图腾网获悉日本株式会社日立高新技术科学申请的专利X射线检查装置和X射线检查方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112925034B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010742282.8，技术领域涉及：G01V5/00；该发明授权X射线检查装置和X射线检查方法是由竹田明弘设计研发完成，并于2020-07-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本X射线检查装置和X射线检查方法在说明书摘要公布了：提供X射线检查装置和X射线检查方法，即使是长条的片状的试样，也能一边进行强度校正一边连续进行检查。具备：X射线源；试样移动机构；X射线检测部，其具有线传感器，该线传感器利用像素检测透过了试样的X射线；图像存储部，其存储X射线强度；强度校正部，其进行由图像存储部存储的X射线强度的校正；缺陷检测部，其检测试样中有无缺陷，强度校正部将在试样中开始X射线的检测时的最初的检测开始区域中检测到的X射线强度，或将在开始X射线的检测前事先在试样中检测到的X射线强度作为基准强度，根据比较在检测开始区域之后检测到的X射线强度和基准强度而得到的校正系数，对在检测开始区域之后的区域中检测到的像素的X射线强度进行校正。

本发明授权X射线检查装置和X射线检查方法在权利要求书中公布了：1.一种X射线检查装置，其特征在于，所述X射线检查装置具备： X射线源，其对试样照射X射线； 试样移动机构，在照射来自所述X射线源的所述X射线时，该试样移动机构使所述试样向特定的方向移动； X射线检测部，其具有线传感器，该线传感器相对于所述试样设置在与所述X射线源相反的一侧，沿着与所述特定的方向垂直的方向排列有多个像素，利用所述像素检测透过了所述试样的所述X射线； 图像存储部，其存储利用所述像素检测到的X射线强度； 强度校正部，其进行由所述图像存储部存储的所述X射线强度的校正；以及缺陷检测部，其根据所述X射线强度来检测所述试样中有没有缺陷，所述试样是没有不需要检查的部分的长条片状，所述试样移动机构使所述试样被不间断地连续供给而移动，所述强度校正部将在所述试样中开始所述X射线的检测时的最初的检测开始区域中检测到的所述X射线强度、或者将在开始所述X射线的检测之前事先在所述试样中检测到的所述X射线强度作为基准强度，根据通过比较在所述检测开始区域之后检测到的所述X射线强度和所述基准强度而得到的校正系数，对在所述检测开始区域之后的区域中检测到的所述像素的所述X射线强度进行校正，所述缺陷检测部根据所述校正系数的变动来判定所述缺陷的有无。

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