上海兆芯集成电路有限公司郑春晖获国家专利权
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龙图腾网获悉上海兆芯集成电路有限公司申请的专利内建自测试的方法及互连接口获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114036885B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111312589.5，技术领域涉及：G06F30/333；该发明授权内建自测试的方法及互连接口是由郑春晖;李姣设计研发完成，并于2021-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本内建自测试的方法及互连接口在说明书摘要公布了：一种内建自测试的方法，包含以下操作：于发送部，选取标准序列，并使用标准序列及对应于标准序列的标头产生测试序列，将测试序列经过受测路径而传送给接收部；以及于接收部，从接收到的测试序列中解析出标头及接收序列，基于被解析出的标头取得标头对应的标准序列，比较标准序列及接收序列，以得到受测路径的测试结果。
本发明授权内建自测试的方法及互连接口在权利要求书中公布了：1.一种内建自测试的方法，包括： 于一发送部，选取一标准序列，并使用该标准序列及对应于该标准序列的一标头产生一测试序列，将该测试序列经过一受测路径传送给一接收部；以及于该接收部，从接收到的该测试序列中解析出该标头及一接收序列，根据标头与标准序列之间的对应关系，基于被解析出的该标头取得该标准序列，比较该标准序列及该接收序列，以得到该受测路径的一测试结果。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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