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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于双模式组合搜索的成对覆盖阵列优化方法及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117591409B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311581581.8，技术领域涉及：G06F11/3668；该发明授权基于双模式组合搜索的成对覆盖阵列优化方法及测试方法是由罗川;宋健平;胡春明设计研发完成，并于2023-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于双模式组合搜索的成对覆盖阵列优化方法及测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于双模式组合搜索的成对覆盖阵列优化方法及测试方法，包括：S1.将成对覆盖阵列输入损失函数计算每个分配的损失，根据计算的损失从成对覆盖阵列中选择一个分配并移除，得到部分覆盖阵列；S2.根据双模式组合搜索框架利用贪心模式和探索模式，对部分覆盖阵列中剩余分配进行修改和成对元组覆盖，得到修改后的成对覆盖阵列或部分覆盖阵列，两种模式交替运行直到部分覆盖阵列变为成对覆盖阵列；S3.重复步骤S1和S2，根据搜索预算确定停止优化的时间得到优化后的成对覆盖阵列；通过优化后的成对覆盖阵列进行测试；本发明从成对覆盖阵列中移除分配并修改剩余分配，将成对覆盖阵列规模进一步压缩，实现成对覆盖阵列的优化，有助于降低测试开销。

本发明授权基于双模式组合搜索的成对覆盖阵列优化方法及测试方法在权利要求书中公布了：1.基于双模式组合搜索的成对覆盖阵列优化方法，其特征在于，包括以下步骤： S1.将成对覆盖阵列输入损失函数计算成对覆盖阵列中每个分配的损失，根据计算得到的损失从成对覆盖阵列中选择一个分配并移除，得到部分覆盖阵列； S2.根据双模式组合搜索框架利用贪心模式和探索模式，对部分覆盖阵列中剩余的分配进行修改和成对元组覆盖，得到修改后的成对覆盖阵列或部分覆盖阵列，贪心模式与探索模式交替运行直到部分覆盖阵列变为成对覆盖阵列； S3.重复步骤S1和S2，根据搜索预算确定停止优化的时间并得到优化后的成对覆盖阵列，使用优化后的成对覆盖阵列进行软件测试； 一个覆盖阵列为一组测试用例； 贪心模式运行的具体内容为： 从部分覆盖阵列中的未覆盖成对元组集合中选择一个未覆盖成对元组τ，选择一个不违背分配级禁忌策略的有效分配α，利用轻度修改技术和强制覆盖技术修改为另一个有效分配α′对未覆盖成对元组τ进行覆盖，记一个修改α,α′为一个候选操作α,α′，计算每个候选操作α,α′的收益，根据候选操作的收益挑选一个候选操作执行； 探索模式的具体内容为： 随机遍历部分覆盖阵列的每个变量e，对于部分覆盖阵列的每个变量e，选择一个分配α，修改α中的变量e得到一个新的分配α′，如果α′为一个合法分配，则执行操作α,α′，并终止探索模式； 轻度修改技术的具体内容为： 对于指定的未覆盖成对元组τ＝{oi，qi，oj，qj}，修改分配α中选项oi，oj的值为qi，qj，得到修改后的分配α′； 强制覆盖技术修改过程为： 对于指定的未覆盖成对元组τ和待修改的分配α，调用SAT求解器求解生成一个与α相似且覆盖成对元组的分配α′； 在搜索过程中，以概率调用强制覆盖技术，得到修改后的分配α′。

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