平方和(北京)科技有限公司蔡仲伦获国家专利权
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龙图腾网获悉平方和(北京)科技有限公司申请的专利隐形眼镜三维形貌测量方法、装置及隐形眼镜缺陷检测系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118558618B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410458647.2,技术领域涉及:G01N21/958;该发明授权隐形眼镜三维形貌测量方法、装置及隐形眼镜缺陷检测系统是由蔡仲伦;侯红云;姜炜曼;姚佳迪;苏庆丰设计研发完成,并于2024-04-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本隐形眼镜三维形貌测量方法、装置及隐形眼镜缺陷检测系统在说明书摘要公布了:本发明涉及缺陷检测技术领域,尤其是指一种隐形眼镜三维形貌测量方法、装置及隐形眼镜缺陷检测系统,包括以下步骤:S01、获取待测镜片的物理结构参数;S02、根据物理结构参数提取待测镜片的物理结构特征值;S03、建立物理结构特征值与视觉组件参数之间的映射关系;S04、根据映射关系,将物理结构特征值映射到视觉组件参数上,并输出视觉组件参数。本发明对缺陷成像时所表现的三维形貌进行预检测,使得其检测时的姿态与所处的溶液环境均与进行缺陷成像时所表现的三维形貌保持一致,提升镜片缺陷检测设备检测效率和准确率。
本发明授权隐形眼镜三维形貌测量方法、装置及隐形眼镜缺陷检测系统在权利要求书中公布了:1.隐形眼镜三维形貌测量方法,其特征在于,包括以下步骤: S01、获取待测镜片5的物理结构参数; S02、根据物理结构参数提取待测镜片5的物理结构特征值; S03、建立物理结构特征值与视觉组件参数之间的映射关系; S04、根据映射关系,将物理结构特征值映射到视觉组件参数上,并输出视觉组件参数,视觉组件参数用于隐形眼镜缺陷成像; 视觉组件参数包括工业相机型号、照明光源型号及照明光源与样品之间的间距d; 在S01中,包括以下步骤: S011、获取待测镜片5的直径和矢高; S012、根据待测镜片5的直径和矢高,测量待测镜片5的厚度; S013、根据待测镜片5的直径、矢高和厚度,建立待测镜片5的三维形貌,并输出待测镜片5的物理结构参数。
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