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清华大学;同方威视技术股份有限公司陈志强获国家专利权

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龙图腾网获悉清华大学;同方威视技术股份有限公司申请的专利用于射线检查的成像系统和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119184720B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411318154.5,技术领域涉及:A61B6/03;该发明授权用于射线检查的成像系统和方法是由陈志强;张丽;金鑫;杨洪恺;许晓飞;赵振华;张思远;陈昶羽设计研发完成,并于2021-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。

用于射线检查的成像系统和方法在说明书摘要公布了:本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括:检查区域,包括成像区域;第一射线源组件,其所有第一靶点布置在第一射线源平面内;第一探测器组件,其多个第一探测器单元布置在探测器平面内,探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离;和射线源控制装置,其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时,使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线,在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中,每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域,并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。

本发明授权用于射线检查的成像系统和方法在权利要求书中公布了:1.一种用于射线检查的成像系统,包括: 检查区域,其中被检查对象能够进入所述检查区域,所述检查区域包括成像区域,所述被检查对象的感兴趣区域能够进入所述成像区域,所述感兴趣区域是所述被检查对象的局部区域,所述成像区域是所述检查区域的局部区域,并且设置成足以容纳所述被检查对象的感兴趣区域; 第一射线源组件,用于发射X射线,其中,所述第一射线源组件包括多个分布式射线源,每个分布式射线源包括多个第一靶点,所述第一射线源组件的所有第一靶点布置在第一射线源平面内; 第一探测器组件,用于接收从所述第一射线源组件发射并透射经过所述成像系统的所述成像区域的X射线,其中,所述第一探测器组件包括多个第一探测器单元,每个第一探测器单元包括多个第一探测器晶体,其中,所述第一靶点的射线发射范围都只覆盖所述成像区域但不覆盖整个所述检查区域,所述第一射线源组件还包括至少一个第二靶点,所述第二靶点的射线发射范围经选择能够覆盖所述检查区域,并且所述成像系统设置成利用所述第一靶点对所述感兴趣区域进行成像,并且利用所述第二靶点对所述被检查对象整体进行成像,以对所述感兴趣区域进行三维图像重建。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人清华大学;同方威视技术股份有限公司,其通讯地址为:100084 北京市海淀区清华园1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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