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同济大学程鑫彬获国家专利权

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龙图腾网获悉同济大学申请的专利一种基于复原图像性能的计算成像系统公差分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119359596B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411357926.6,技术领域涉及:G06T5/77;该发明授权一种基于复原图像性能的计算成像系统公差分析方法是由程鑫彬;顿雄;邢裕杰;杨定豪;王绪泉;余俊;王占山设计研发完成,并于2024-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于复原图像性能的计算成像系统公差分析方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于复原图像性能的计算成像系统公差分析方法,包括:构建通用光学元件加工误差模型;基于给定的加工面形误差的均方根值,确定误差模型的参数边界,生成加工误差参数,并导入光学设计软件中进行光线追踪,获取系统各个视场波像差,以得到各视场点扩散函数,并叠加噪声图像,获得退化图像,从而构建复原图像,评估系统各视场MTF值,以各个光学元件的加工公差极限;将各个光学元件的加工公差极限乘以比例系数Ra,循环执行上述步骤,并逐渐增加比例系数,直至得到系统各个光学元件加工误差边界。与现有技术相比,本发明能够实现计算成像系统的公差分析,确定光学元件加工公差边界,对系统中光学元件的加工具有重要指导意义。

本发明授权一种基于复原图像性能的计算成像系统公差分析方法在权利要求书中公布了:1.一种基于复原图像性能的计算成像系统公差分析方法,其特征在于,包括以下步骤: 模型构建步骤:构建通用光学元件加工误差模型; 系统成像性能评估步骤:基于给定的加工面形误差的均方根值,确定所述通用光学元件加工误差模型的参数边界,并随机生成多组加工误差参数;将加工误差参数导入光学设计软件中进行光线追踪,获取系统各个视场波像差,从而得到系统各视场点扩散函数,并叠加噪声图像,获得退化图像;基于退化图像与系统各视场点扩散函数进行处理,得到复原图像,评估该复原图像的系统各视场MTF值; 加工面形误差调整步骤:判断系统成像性能评估步骤获取的系统各视场MTF值中的最小MTF值是否大于预设的系统指标,若是,则增大加工面形误差的均方根值,并重复执行所述系统成像性能评估步骤,直至获取的系统各视场MTF值中的最小MTF值小于所述系统指标; 整体分析步骤:单独对计算成像系统的各个光学元件执行所述系统成像性能评估步骤和加工面形误差调整步骤,获取各个光学元件的加工公差极限;将各个光学元件的加工公差极限乘以比例系数Ra得到每个光学元件加工公差,循环执行所述系统成像性能评估步骤和加工面形误差调整步骤,并逐渐增加比例系数,直至得到系统各个光学元件加工误差边界。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人同济大学,其通讯地址为:200092 上海市杨浦区四平路1239号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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