华中科技大学;湖北光谷实验室谷洪刚获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学;湖北光谷实验室申请的专利一种相干衍射成像自动聚焦方法和系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119574504B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411638995.4,技术领域涉及:G01N21/45;该发明授权一种相干衍射成像自动聚焦方法和系统是由谷洪刚;庄柏霖;刘世元;刘力设计研发完成,并于2024-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种相干衍射成像自动聚焦方法和系统在说明书摘要公布了:本申请属于相干衍射成像领域,具体公开一种相干衍射成像自动聚焦方法和系统。本申请通过近场传播模型模拟多组不同位置的待测样品,对模拟待测样品进行小波变化得到小波系数,根据小波系数计算清晰度,利用所有模拟待测样品的清晰度加权更新轴向距离,以逐步逼近样品与探测器之间轴向距离的实际值,实现相干衍射成像的自动聚焦。本申请首次提出采用频域内的算子计算重构图像的清晰度,该方式具有更高的轴向对比度和噪声鲁棒性,极大提高收敛速度、精度和鲁棒性;通过小波变换,在频域内提取图像水平、垂直、对角三个方向上的细节分量,以评价重构图像的清晰度,且可灵活调整不同方向的权重,具有更好的泛化性。
本发明授权一种相干衍射成像自动聚焦方法和系统在权利要求书中公布了:1.一种相干衍射成像自动聚焦方法,其特征在于,包括: S1.获取待校准轴向距离及此距离下的重构待测样品和照明探针; S2.利用近场传播模型将当前轴向距离下的重构待测样品传播若干距离,得到不同校准位置处的模拟待测样品; S3.对各模拟待测样品分别进行小波变换,得到对应小波系数,所述小波系数包括近似系数、水平细节系数、垂直细节系数和对角细节系数; S4.分别计算各模拟待测样品小波系数的方差并求和,得到对应清晰度; S5.利用所有模拟待测样品的清晰度作为权数,加权更新当前轴向距离,更新当前轴向距离下的重构待测样品和照明探针; S6.重复S2‑S5直至当前轴向距离逼近轴向距离实际值,将当前轴向距离作为校准后的轴向距离,以实现相干衍射成像的自动聚焦,同时得到校准后清晰的重构待测样品和照明探针; 所述加权更新当前轴向距离的计算公式具体如下: 其中,表示更新后轴向距离,表示待校准轴向距离,表示更新前轴向距离,表示当前轴向距离更新步长,表示上一次迭代得到的轴向距离更新步长,表示轴向距离更新步长阻尼系数,表示第个传播距离,表示第个校准位置模拟待测样品图像的清晰度,,为校准位置的数量; 所述更新当前轴向距离下的重构待测样品和照明探针,具体如下: 1利用当前轴向距离,计算新的样品单像素尺寸: 其中,表示样品单像素尺寸,表示使用光源的波长,表示更新后轴向距离,表示探测器靶面的尺寸; 2以单像素尺寸为比例,根据所使用的相干衍射成像系统特点,将实际扫描位置坐标转化为离散扫描位置坐标; 3将新的样品矩阵中离散扫描位置坐标代入相干衍射成像算法,并迭代若干次,得到当前轴向距离下的重构待测样品和照明探针。
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