浙江大学绍兴研究院林可获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江大学绍兴研究院申请的专利一种各向异性基底上多层涂层厚度的提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119879751B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411955382.3，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种各向异性基底上多层涂层厚度的提取方法是由林可;宋云鹤;赵利霞设计研发完成，并于2024-12-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种各向异性基底上多层涂层厚度的提取方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种各向异性基底上多层涂层厚度的提取方法，包括步骤S1：使用第一TPX透镜在待测基底的一位置上投射太赫兹波，从而获得第一信息；步骤S2：使用第二TPX透镜在待测基底的同一位置上投射太赫兹波，从而获得第二信息；步骤S3：为各向异性基底创建一个与测试位置无关的等效基质值；步骤S4：在带有涂层的基底上重复步骤S1和步骤S2，从而获得基底的涂层厚度。本发明公开的一种各向异性基底上多层涂层厚度的提取方法，大幅度简化了涂层测厚流程，有效地省去了测量时需要旋转样品或测试设备来收集大量数据这一困难又耗时的步骤。获得了各向异性基底等效参数，并改进了多层厚度提取过程。
本发明授权一种各向异性基底上多层涂层厚度的提取方法在权利要求书中公布了：1.一种各向异性基底上多层涂层厚度的提取方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1：使用第一TPX透镜在待测基底的一位置上投射太赫兹波，第一TPX透镜的光束尺寸与位置的特征尺寸相匹配，从而获得包括光路长度L0、折射率n0、峰值频率f0的第一信息； 步骤S2：使用第二TPX透镜在待测基底的同一位置上投射太赫兹波，第二TPX透镜的光束尺寸大于第一TPX透镜的光束尺寸，从而获得包括光路长度L1、折射率n1、峰值频率f1的第二信息； 步骤S3：分析第一信息和第二信息测量的光谱数据，为各向异性基底创建一个与测试位置无关的等效基质值，并且将等效基质值作为基底的等效指标； 步骤S4：在带有涂层的基底上重复步骤S1和步骤S2，从而获得基底的涂层厚度。
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