核工业西南物理研究院刘亮获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉核工业西南物理研究院申请的专利一种利用主动光谱测量杂质裸核浓度剖面的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119935909B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510034285.9，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权一种利用主动光谱测量杂质裸核浓度剖面的方法是由刘亮;何小雪;余德良;魏彦玲设计研发完成，并于2025-01-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种利用主动光谱测量杂质裸核浓度剖面的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种利用主动光谱测量杂质裸核浓度剖面的方法，包括：步骤一、获取中性束在行进过程中的束密度；步骤二、获取中性束原子中激发态与基态的粒子数密度比值；步骤三、根据获取的中性束原子中激发态与基态的粒子数密度比值，计算中性束原子与杂质离子的电荷交换复合辐射速率系数；步骤四、测量杂质离子主动光谱强度，并结合获取的束密度、电荷交换复合辐射速率系数计算杂质离子浓度剖面分布。该方法通过绝对标定的杂质离子主动光谱强度、中性束密度和电荷交换复合辐射速率系数计算杂质裸核浓度的剖面分布，完善了对杂质浓度的测量，将为进一步研究等离子体的控制、输运和内部的物理机制等提供必要的物理参数和实验数据支撑。
本发明授权一种利用主动光谱测量杂质裸核浓度剖面的方法在权利要求书中公布了：1.一种利用主动光谱测量杂质裸核浓度剖面的方法，其特征在于，包括： 步骤一、获取中性束在行进过程中的束密度； 步骤二、获取中性束原子中激发态与基态的粒子数密度比值； 步骤三、根据获取的中性束原子中激发态与基态的粒子数密度比值，计算中性束原子与杂质离子的电荷交换复合辐射速率系数； 步骤四、测量杂质离子主动光谱强度，并结合获取的束密度、电荷交换复合辐射速率系数计算杂质离子浓度剖面分布； 所述步骤四中的杂质离子主动光谱强度可通过电荷交换复合光谱诊断系统测量并利用积分球绝对标定而获得，杂质离子浓度剖面可通过以下公式计算： 其中，ΦCVI为主动谱光子通量，为每个束能量成分对应的电荷交换复合辐射速率系数，Nb,k为第k个能量成分的弦积分束密度，nZρ为需要计算的杂质离子浓度剖面。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人核工业西南物理研究院，其通讯地址为：610000 四川省成都市双流区西南航空港黄荆路5号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励