北京炬玄智能科技有限公司李红获国家专利权
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龙图腾网获悉北京炬玄智能科技有限公司申请的专利DFT测试模式控制电路、方法及芯片获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120044380B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510515191.3,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权DFT测试模式控制电路、方法及芯片是由李红;王晓晖;刘洋设计研发完成,并于2025-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本DFT测试模式控制电路、方法及芯片在说明书摘要公布了:本发明提供了一种DFT测试模式控制电路、方法及芯片,涉及集成电路测试技术领域,其中电路包括时序验证模块,接入测试时钟信号,用于记录上升沿计数值并与预设计数值进行比对,得到时序比对结果;信号验证模块,接入测试数据信号,用于记录实际采样值并与预设采样值进行比对,得到信号比对结果;测试控制模块在上升沿计数值与预设计数值相等,且实际采样值与预设采样值相等时,输出预设逻辑电平信号以控制待测电路进入DFT测试模式。上述电路利用现有端口输出的信号资源,形成触发测试模式的多重验证机制,提高待测电路进入测试模式的可靠性,无需单独设置端口,减少端口数量并降低芯片成本,在芯片不具备全部测试端口时也能进行DFT测试。
本发明授权DFT测试模式控制电路、方法及芯片在权利要求书中公布了:1.一种DFT测试模式控制电路,其特征在于,包括时序验证模块、信号验证模块和测试控制模块,其中,所述时序验证模块的输出端和所述信号验证模块的输出端分别与所述测试控制模块的输入端连接,所述测试控制模块的输出端与待测电路连接; 所述时序验证模块的输入端接入测试时钟信号,用于对所述测试时钟信号的上升沿进行递增计数,记录上升沿计数值,将所述上升沿计数值与预设计数值进行比对,得到时序比对结果并输出至所述测试控制模块; 所述信号验证模块的输入端接入测试数据信号,用于在预设周期内在所述测试时钟信号的上升沿对所述测试数据信号进行采样,记录实际采样值,将所述实际采样值与预设采样值进行比对,得到信号比对结果并输出至所述测试控制模块,其中,所述预设周期的数值与所述预设计数值相等,所述测试数据信号包括测试数据输入信号和测试使能信号; 所述测试控制模块用于在所述时序比对结果指示所述上升沿计数值与预设计数值相等,且所述信号比对结果指示所述实际采样值与预设采样值相等时,输出预设逻辑电平信号,以控制所述待测电路进入DFT测试模式; 所述DFT测试模式控制电路还包括测试复位端口; 所述测试复位端口为所述待测电路中的任一输出端口,所述测试复位端口与测试设备连接,用于接收测试设备发送的测试复位信号,其中,所述测试复位端口输出的信号保持无效电平状态。
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