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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064214B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510525744.3，技术领域涉及：G01N21/47；该发明授权一种全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像方法及系统是由邓勇;蒋宇轩;吴雨峻;窦煜翔;夏浩峰设计研发完成，并于2025-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像方法及系统，涉及光学和生物医学工程技术领域，设计激发扫描模块和探测模块，可产生近红外线光束，近红外线光束聚焦到待测样品表面形成可扩散的线光源，从而实现线扫描激发。设计正向过程建模方法，将线光源扩散的场强分布视为离散点光源扩散的场强分布的加权累加，得到系统正向矩阵。设计系统校准方法，借助钢棒标定不同双轴振镜电压值下线光束的空间位置，实现线光束两端起点空间坐标的确定以及线光束偏转角度与双轴振镜电压关系的确定。本申请旨在保证重建精度的同时，显著加快FDT成像速度，助力FDT技术在动态成像等实时性要求较高领域的进一步应用拓展。

本发明授权一种全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像系统，其特征在于，所述全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像系统包括： 激发扫描模块，用于产生近红外线光束，并利用近红外线光束对待测样品进行线扫描激发；待测样品内有荧光探针； 探测模块，用于分别探测待测样品表面的近红外线光束的漫射光束和待测样品表面的荧光光束，得到FDT探测数据；FDT探测数据包括漫射光束对应的激发光探测数据和荧光光束对应的荧光探测数据； 探测模块包括计算机，计算机用于接收并存储FDT探测数据，基于FDT探测数据完成图像重建； 所述全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像系统还包括：X射线管和X射线探测器；X射线管用于向待测样品发射X射线；X射线探测器用于探测穿过待测样品的X射线； 计算机用于接收并存储X射线探测器的XCT探测数据； XCT探测数据在经过滤波反投影算法进行图像重建后，获得待测样品的外部边界和内部结构信息，根据获得的待测样品的外部边界和内部结构信息构建激发光和荧光的稳态扩散方程； 所述全角度线扫描激发的荧光扩散断层成像系统的荧光扩散断层成像方法包括：将近红外线光斑视作线光源，并将线光源建模为多个离散的点光源，近红外线光斑为近红外线光束聚焦在待测样品表面后所形成的光斑；对于每一个点光源，对带有边界条件的稳态扩散方程进行求解，得到用于表征通量密度和光源项之间线性关系的线性方程；对线性方程进行求解，得到点光源对应的激发光波段场强分布和荧光波段场强分布；对所有点光源对应的激发光波段场强分布进行加权求和，得到线光源对应的激发光波段场强分布；对线光源对应的激发光波段场强分布和荧光波段场强分布进行归一化波恩近似，得到系统正向矩阵；基于系统正向矩阵和FDT探测数据进行图像重建。

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