深圳精智达技术股份有限公司施冬冬获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120339289B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510828858.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质是由施冬冬;杨硕;崔乔乔设计研发完成，并于2025-06-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质，用于检测屏幕缺陷，提高缺陷检出率。本申请方法包括：根据相机不同的光源和光源位置，获取第一图像和第二图像并计算第一图像均值；根据第一图像、第二图像以及第一图像均值，计算得到矫正系数矩阵；确定第一图像中灰尘的坐标位置和噪点的坐标位置；根据灰尘的坐标位置和噪点的坐标位置调整矫正系数矩阵，并通过调整后的矫正系数矩阵对第一图像进行矫正；获取第一图像中显示屏的拟合边缘，并通过单应性矩阵计算得到第三图像；根据自适应空间滤波核矩阵与第三图像进行卷积运算；对完成卷积运算后的第三图像进行阈值卡控，筛选出第四图像；对第四图像进行特征值分析，得到缺陷特征。
本发明授权一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种图像的缺陷检测方法，其特征在于，包括： 根据相机不同的光源和光源位置，获取第一图像和第二图像并计算第一图像均值，所述第一图像均值为所述第一图像中所有像素值的均值； 根据所述第一图像、第二图像以及第一图像均值，计算得到矫正系数矩阵； 确定所述第一图像中灰尘的坐标位置和噪点的坐标位置； 根据所述灰尘的坐标位置和噪点的坐标位置调整所述矫正系数矩阵，并通过调整后的矫正系数矩阵对所述第一图像进行矫正； 获取所述第一图像中显示屏的拟合边缘，并通过单应性矩阵计算得到第三图像，所述第三图像为所述第一图像中显示屏的显示区域； 根据自适应空间滤波核矩阵与所述第三图像进行卷积运算； 对完成卷积运算后的所述第三图像进行阈值卡控，筛选出第四图像，所述第四图像为所述第三图像中满足阈值卡控的图像部分； 对所述第四图像进行特征值分析，得到缺陷特征。
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