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龙图腾网获悉西安微电子技术研究所申请的专利一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114944187B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210697568.8，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统是由赵超;郭雁蓉;匡乃亮;赵国良;李庆设计研发完成，并于2022-06-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统，包括测试夹具、PCB板和驱动电路；测试夹具固定在PCB板上，测试夹具用于夹持被测器件，被测器件与PCB板进行电连接，所述被测器件的顶部设置有加热装置；被测器件的底部设置有测温传感器，测温传感器与PCB板进行电连接；所述驱动电路设置在PCB板上，被测器件的电路与驱动电路进行电连接。测试夹具底部的PCB板中心开设有通孔，所述PCB板的底部固定有加强板，所述加强板的中心设置有凹槽，凹槽内部设置有弹簧，弹簧的顶部设置有测温传感器。以解决信号长线传输延迟问题，提升工作频率，提升老化效率、控制老化成本。

本发明授权一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统在权利要求书中公布了：1.一种面向TSV重构堆叠存储器的老化测试系统，其特征在于，包括测试夹具11、PCB板12和驱动电路20； 所述测试夹具11固定在PCB板12上，测试夹具11用于夹持被测器件8，被测器件8与PCB板12进行电连接，所述被测器件8的顶部设置有加热装置； 所述测试夹具11底部的PCB板12中心开设有通孔，所述PCB板12的底部固定有加强板13，所述加强板13的中心设置有凹槽，凹槽内部设置有弹簧16，弹簧16的顶部设置有测温传感器15； 所述测试夹具11包括盖板1、旋转手柄2、螺纹3、压块4、加热棒5、电线6、弹簧针座9、弹簧针10； 所述盖板1的顶部设置有通孔，通孔上设置有螺纹3，旋转手柄2穿过通孔与盖板1进行螺纹连接；所述旋转手柄2的底部连接有压块4，压块4内部设置有加热部件； 所述盖板1的底部固定有弹簧针座9，弹簧针座9的内部设置有弹簧针10，弹簧针10的底部与PCB板12相连接，被测器件8通过弹簧针10与PCB板12电气连接； 所述压块4的底部设置有高温有机薄片7； 所述被测器件8的底部设置有测温传感器15，测温传感器15与PCB板12进行电连接；所述驱动电路20设置在PCB板12上，被测器件8的电路与驱动电路20进行电连接。

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