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龙图腾网获悉中国空间技术研究院申请的专利一种ADC辐照检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119758023B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411708504.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种ADC辐照检测方法是由莫日根;薛朋超;刘景怡设计研发完成，并于2024-11-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种ADC辐照检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种ADC辐照检测方法，属于芯片检测领域。该方法首先搭建辐照检测电路，辐照检测电路包括可编程门阵列单元、多路切换单元和矩阵开关单元，可编程门阵列单元将配置指令解析为激励信号，多路切换单元和矩阵开关单元将激励信号同步输入到待测ADC和参考ADC。其次基于辐照检测电路进行瞬态脉冲测试，检测在辐照环境下待测ADC是否发生一次瞬态脉冲。另外，基于辐照检测电路分别进行无辐射环境下和辐射环境下的功能测试，检测待测ADC功能是否正常。通过本发明的应用，能够准确判断ADC是否存在问题。

本发明授权一种ADC辐照检测方法在权利要求书中公布了：1.一种ADC辐照检测方法，其特征在于，包括： 搭建辐照检测电路，辐照检测电路包括可编程门阵列单元、多路切换单元和矩阵开关单元，可编程门阵列单元将配置指令解析为激励信号，多路切换单元和矩阵开关单元将激励信号同步输入到待测ADC和参考ADC； 基于辐照检测电路进行瞬态脉冲测试：辐照检测电路在辐照环境下工作，将参考ADC的无瞬态脉冲值作为标准值，可编程门阵列单元接收待测ADC和参考ADC的电压信息，当待测ADC的瞬态脉冲值与标准值的差值超过设定的瞬态脉冲阈值，且持续时间超过设定的脉冲宽度阈值，则判定待测ADC发生过一次瞬态脉冲； 基于辐照检测电路进行功能测试：辐照检测电路在无辐照环境下工作，可编程门阵列单元记录待测ADC工作电流；之后，辐照检测电路在辐照环境下工作，进行如下检测： 在辐照期间同一周期内，将待测ADC和参考ADC的采样点采集的数字量差值低于设定的采集点最大误差阈值，定义为正常采样点，否则为异常采样点；可编程门阵列单元获取同一周期内采样点总数Y以及异常采样点数Y1，当Y1Y大于设定的信号异常率阈值，则认定待测ADC发生功能中断，否则认定待测ADC功能正常； 可编程门阵列单元比较辐照环境下待测ADC工作电流与无辐照环境下待测ADC工作电流，若两者差值的绝对值大于设定的工作电流最大误差，则认定待测ADC功能异常，否则认定待测ADC功能正常； 辐照检测电路在辐照环境下工作过程中，将待测ADC的位数去掉前2位，对2~位异或，获取单个周期内的采样数，根据辐照时间，信号周期，得到总数据量位A，获取辐照期间翻转数，以精确得到待测ADC的性能状况。

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