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龙图腾网获悉武汉光迅科技股份有限公司申请的专利一种光纤模场直径自动化测量装置与方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119880346B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510041664.0，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权一种光纤模场直径自动化测量装置与方法是由黄辅波;曾睿;楚劲草;尹轶群;罗勇设计研发完成，并于2025-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光纤模场直径自动化测量装置与方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种光纤模场直径自动化测量装置与方法，包括：第一滑台、光束质量分析仪和底座，其中：第一滑台和光束质量分析仪依次设置于底座上；第一滑台用于设置待测光纤，并带动待测光纤进行不同方向的移动或者转动，以调整待测光纤端面同光束质量分析仪之间的轴向距离，以及调整待测光纤出射在光束质量分析仪上的光斑的位置和椭圆度，以通过光束质量分析仪对不同轴向距离位置的待测光纤所出射的光斑进行准确测量，获取到不同轴向距离位置的待测光纤所对应的光斑半径，根据不同轴向距离位置的待测光纤所对应的光斑半径以及对应的轴向距离得到待测光纤的模场直径，通过第一滑台对于光斑椭圆度的调整，提高了待测光纤的模场直径的测量的准确度。

本发明授权一种光纤模场直径自动化测量装置与方法在权利要求书中公布了：1.一种光纤模场直径自动化测量装置，其特征在于，包括：第一滑台1、光束质量分析仪2和底座3，其中： 所述第一滑台1和光束质量分析仪2依次设置于所述底座3上； 所述第一滑台1用于设置待测光纤4，并带动所述待测光纤4进行水平方向移动、垂直方向移动、垂直轴向转动和水平轴向转动，以调整待测光纤4端面同光束质量分析仪2之间的轴向距离，以及调整待测光纤4出射在光束质量分析仪2上的光斑的位置和椭圆度； 所述光束质量分析仪2用于对不同轴向距离位置的待测光纤4所出射的光斑进行测量，以获取不同轴向距离位置的待测光纤4所对应的光斑半径，根据不同轴向距离位置的待测光纤4所对应的光斑半径以及对应的轴向距离得到待测光纤4的模场直径； 所述第一滑台1具体包括：第一基座11、第一水平移动组件12、第一垂直移动件13、第一垂直轴向转动件14、第一水平轴向转动件15和夹具16，其中： 所述第一基座11位于第一滑台1的底端，所述第一水平移动组件12设置于所述第一基座11上端，所述第一水平移动组件12用于进行X轴方向和Y轴方向的移动，所述第一水平移动组件12侧面设置有垂直导轨； 所述第一垂直移动件13设置于所述第一水平移动组件12的侧面上，并同所述垂直导轨滑动连接； 所述第一垂直移动件13上设置有第一圆弧面，所述第一圆弧面上设置有垂直轴向弧形导轨； 所述第一垂直轴向转动件14设置于所述第一圆弧面上，并同所述垂直轴向弧形导轨滑动连接，所述第一垂直轴向转动件14上端设置有第二圆弧面，所述第二圆弧面上设置有水平轴向弧形导轨； 所述第一水平轴向转动件15设置于所述第二圆弧面上，并同所述水平轴向弧形导轨滑动连接； 所述夹具16设置于所述第一水平轴向转动件15上，所述夹具16用于固定所述待测光纤4。

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