买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉上海利扬创芯片测试有限公司申请的专利一种后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114297153B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111585527.1，技术领域涉及：G06F16/16；该发明授权一种后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法是由朱思琴;陈聪;李宗仁设计研发完成，并于2021-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法在说明书摘要公布了：本发明揭示了后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法，所述方法包括如下步骤：S100、建立流程卡号与后段质检MAP图所对应文件的映射；S200、提供前段客供MAP图所对应文件的存储路径；S300、根据所述映射和所述存储路径，对质检MAP图所对应文件和前段客供MAP图所对应文件进行比对，比对后，生成比对MAP图文件。本发明摒弃了现有技术中人工比对文件的方法，相比现有技术，本发明更加快捷方便，且不容易出错，方便作业人员快速并精确的进行晶圆测试质检。

本发明授权一种后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法在权利要求书中公布了：1.一种针对晶圆测试质量检验中的校验晶圆的后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法，所述方法包括如下步骤： S100、建立流程卡号与后段质检MAP图所对应文件的映射；其中，后段质检MAP图所对应的文件具备坐标； S200、提供前段客供MAP图所对应文件的存储路径；其中，前段客供MAP图所对应文件没有具体坐标； S300、根据所述映射和所述存储路径，对后段质检MAP图所对应文件和前段客供MAP图所对应文件进行比对，比对后，生成比对MAP图文件； 步骤S300中，比对的原则为：防止die缺失和错位； 步骤S300中，按照die的一一对应关系比对； 步骤S300中，比对后，根据每个die在后段质检MAP图所对应文件和在前段客供MAP图所对应文件的测试结果，进行逻辑操作，通过二者比对来生成包含比对结果的比对MAP图文件； 所述逻辑操包括逻辑与和逻辑或操作，其中， 当后段质检MAP认为某个die为fail时，执行逻辑与操作，无论前段客供MAP认为该对应的die为fail还是pass，比对结果都是fail； 当后段质检MAP认为某个die为pass时，执行逻辑或操作，无论前段客供MAP认为该对应的die为fail还是pass，比对结果都是pass。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海利扬创芯片测试有限公司，其通讯地址为：201800 上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。