北京振兴计量测试研究所支辛蕾获国家专利权
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龙图腾网获悉北京振兴计量测试研究所申请的专利单色仪波长误差校准装置及校准方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115704712B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110883770.5,技术领域涉及:G01J3/12;该发明授权单色仪波长误差校准装置及校准方法是由支辛蕾;翟思婷;王加朋;李世伟设计研发完成,并于2021-08-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本单色仪波长误差校准装置及校准方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种单色仪波长误差校准装置及校准方法,该单色仪波长误差校准装置包括超连续谱激光器、单色仪、干涉组件、探测器、成像单元和控制处理器,单色仪与激光器连接,干涉组件设置在单色仪的正弦驱动机构上,干涉组件用于对单色仪输出的单色光进行干涉以产生干涉条纹,探测器用于采集干涉条纹并显示在成像单元上,控制处理器与单色仪连接,控制处理器用于驱动单色仪的正弦驱动机构反复移动并根据成像单元上的干涉条纹的变化对单色仪的波长误差进行校准。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中单色仪波长校准误差较大且不能进行整个波段校准的技术问题。
本发明授权单色仪波长误差校准装置及校准方法在权利要求书中公布了:1.一种单色仪波长误差校准装置,其特征在于,所述单色仪波长误差校准装置包括: 超连续谱激光器10; 单色仪20,所述单色仪20与所述超连续谱激光器10连接; 干涉组件30,所述干涉组件30设置在所述单色仪20的正弦驱动机构上,所述干涉组件30用于对所述单色仪20输出的单色光进行干涉以产生干涉条纹; 探测器40和成像单元50,所述探测器40用于采集所述干涉条纹并显示在所述成像单元50上; 控制处理器60,所述控制处理器60与所述单色仪20连接,所述控制处理器60用于驱动所述单色仪20的正弦驱动机构反复移动并根据所述成像单元50上的所述干涉条纹的变化对所述单色仪20的波长误差进行校准。
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