芯来智融半导体科技(上海)有限公司彭剑英获国家专利权
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龙图腾网获悉芯来智融半导体科技(上海)有限公司申请的专利故障注入测试方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120596322B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511099504.8，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权故障注入测试方法、装置、计算机设备及存储介质是由彭剑英;胡振波;梁智兵;龚志豪设计研发完成，并于2025-08-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本故障注入测试方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例中提供了一种故障注入测试方法、故障注入测试装置、计算机设备和计算机存储介质，涉及信息安全技术领域。该方法包括：预先将待测试芯片中的多个寄存器配置为相同数目的比特位；针对多个寄存器中处于同一位置的每个目标比特位，基于全自检比较器TSCcomparator对每个目标比特位进行故障注入操作，得到故障测试结果；其中，故障测试结果的输出值为第一预设值或第二预设值；若故障测试结果的输出值为第一预设值，则确定多个寄存器中至少一个目标比特位存在功能故障。本申请降低了故障注入测试的工作量和时间消耗，进而提高了注错操作效率。
本发明授权故障注入测试方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种故障注入测试方法，其特征在于，包括： 预先将待测试芯片中的多个寄存器配置为相同数目的比特位； 针对所述多个寄存器中处于同一位置的每个目标比特位，基于全自检比较器TSCcomparator对所述每个目标比特位进行故障注入操作，得到故障测试结果；其中，所述故障测试结果的输出值为第一预设值或第二预设值； 若所述故障测试结果的输出值为第一预设值，则确定所述多个寄存器中至少一个目标比特位存在功能故障。
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