台湾积体电路制造股份有限公司刘铭棋获国家专利权
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龙图腾网获悉台湾积体电路制造股份有限公司申请的专利深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114121903B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110228698.2,技术领域涉及:H01L23/64;该发明授权深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法是由刘铭棋;张宇行;刘世昌设计研发完成,并于2021-03-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法在说明书摘要公布了:提供一种深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法。所述方法包括在衬底中形成深沟槽,并且在深沟槽中以及在深沟槽之上形成层堆叠,所述层堆叠包括与至少两个节点介电层交错的至少三个金属电极板。在层堆叠之上形成接触级介电材料层,且形成穿过接触级介电材料层的接触通孔空腔。通过通过执行至少两次包括刻蚀掩模形成工艺及刻蚀工艺的处理步骤的组合而选择性地增加接触通孔空腔的相应的子集的深度来区分接触通孔空腔的深度。可在接触通孔空腔中的每一者内形成介电接触通孔衬垫与板接触通孔结构的组合。可通过相应的介电接触通孔衬垫将延伸穿过任何金属电极板的板接触通孔结构与此种金属电极板电隔离。
本发明授权深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法在权利要求书中公布了:1.一种深沟槽电容器,包括: 至少一个深沟槽,从衬底的顶表面向下延伸;以及 层堆叠,包括与至少两个节点介电层交错的至少三个金属电极板;以及 板接触通孔结构,接触所述至少三个金属电极板中的相应一者的顶表面,其中: 所述层堆叠内的每一层包括位于所述至少一个深沟槽中的每一者内部的相应的垂直延伸部分及位于所述衬底的所述顶表面上方的相应的水平延伸部分; 主电极总成,包括选自所述至少三个金属电极板中的至少两个主金属电极板; 互补电极总成,包括选自所述至少三个金属电极板中的至少一个互补金属电极板; 所述层堆叠内的每一层具有包含在垂直平面内的相应的侧壁,所述垂直平面包括所述层堆叠的外周边的区段;且 所述板接触通孔结构包括凸出部分及柱状部分,所述凸出部分接触所述至少三个金属电极板中的相应一者且位于所述柱状部分之下,所述柱状部分具有比所述凸出部分更小的最大侧向尺寸。
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