华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)季阳获国家专利权
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龙图腾网获悉华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)申请的专利玻色采样检验方法、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114358300B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111586399.2，技术领域涉及：G06N10/80；该发明授权玻色采样检验方法、系统及介质是由季阳;黄汛;叶永金;吴永政设计研发完成，并于2021-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本玻色采样检验方法、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种玻色采样检验方法、系统及介质，涉及玻色采样经典检验技术领域，该方法包括：均匀分布的聚类构造步骤：根据符合均匀分布的模拟采样结果构造聚类，并定义聚类中心和聚类半径；待区分样本的区分步骤：根据所述均匀分布的聚类构造步骤形成的聚类，以区分待区分的玻色采样样本和完全不同玻色子采样样本。本发明能够形成更为稳定的聚类结构，不仅降低经典检验的计算难度，还实现了更加明显的区分效果，为玻色采样的经典检验提供技术支持。
本发明授权玻色采样检验方法、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种玻色采样检验方法，其特征在于，包括： 均匀分布的聚类构造步骤：根据符合均匀分布的模拟采样结果构造聚类，并定义聚类中心和聚类半径； 待区分样本的区分步骤：根据所述均匀分布的聚类构造步骤形成的聚类，以区分待区分的玻色采样样本和完全不同玻色子采样样本； 所述均匀分布的聚类构造步骤包括： 产生均匀分布样本集：利用计算机产生符合一定光子数和模式数的均匀分布样本集； 构造聚类：根据所述均匀分布样本集，利用机器学习聚类方法形成聚类，并定义聚类中心和聚类半径； 所述待区分样本的区分步骤包括： 产生待区分样本集：所述玻色采样样本集通过真实物理实验中的玻色采样机产生，或通过计算机模拟产生； 所述完全不同玻色子采样样本集是通过计算机模拟产生； 将待区分样本填入聚类：对于每一种待区分样本集中的每一个样本，根据该样本到各聚类中心的二阶范数距离，将该样本填入聚类； 对待区分样本进行区分：分别统计填入聚类的待区分样本数并进行参数计算，形成参数分布图。
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