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龙图腾网获悉中国科学院自动化研究所申请的专利产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114463261B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111602331.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品是由吕承侃;商秀芹设计研发完成，并于2021-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：本发明提供一种产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品，方法包括：通过确定待测产品图像；并获取产品缺陷检测结果，输入所述待测产品图像至产品缺陷检测模型，得到所述产品缺陷检测模型输出的产品缺陷检测结果；其中，产品缺陷检测模型用于根据所述待测产品图像的特征图与目标特征映射中心的距离，对待测产品图像进行产品缺陷检测；所述产品缺陷检测模型是基于不同位置和或角度的样本产品图像训练得到的。本发明用以解决现有技术中产品缺陷检测依赖人工，不仅提升了人力成本，并且效率和准确率也难以保证的缺陷。

本发明授权产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种产品缺陷检测方法，其特征在于，包括： 确定待测产品图像； 获取产品缺陷检测结果，输入所述待测产品图像至产品缺陷检测模型，得到所述产品缺陷检测模型输出的产品缺陷检测结果； 其中，产品缺陷检测模型用于根据所述待测产品图像的特征图与目标特征映射中心的距离，对待测产品图像进行产品缺陷检测；所述产品缺陷检测模型是基于不同位置和或角度的样本产品图像训练得到的；所述产品缺陷检测模型包括特征提取层，所述产品缺陷检测模型还包括图像匹配层和缺陷区域定位层，所述目标特征映射中心是在所述待测产品图像的每个局部图像区域中指定的特征图； 所述图像匹配层用于将待测产品图像的位置和或角度，调整成与第一目标图像相同的位置和或角度，所述特征提取层用于减小所述待测产品图像中正常区域的特征到目标特征映射中心的距离，并增大待测产品图像中异常区域的特征到目标特征映射中心的距离，所述第一目标图像是从训练集中随机选择的，所述训练集为所述不同位置和或角度的样本产品图像； 所述缺陷区域定位层用于根据所述待测产品图像的特征图与目标特征映射中心的距离构建第一距离热图，并根据所述第一距离热图获取待测产品图像的产品缺陷检测结果； 所述确定待测产品图像之前，还包括对所述产品缺陷检测模型进行训练的步骤，所述对所述产品缺陷检测模型进行训练，包括： 确定样本产品图像，所述样本产品图像为正常的无缺陷的产品图像； 随机旋转和或平移所述样本产品图像； 将样本产品图像的位置和或角度，调整成与目标样品图像相同的位置和或角度； 通过目标特征提取网络对所述样本产品图像进行特征提取得到目标特征图；所述目标特征提取网络用于减小所述样本产品图像中正常区域的特征到目标特征映射中心的距离，并增大所述样本产品图像中异常区域的特征到目标特征映射中心的距离； 根据所述样本产品图像的目标特征图的各个特征与目标特征映射中心的距离构建第二距离热图； 基于所述第二距离热图构建第二损失函数，基于所述第二损失函数训练所述目标特征提取网络。

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