武汉华星光电半导体显示技术有限公司吴咏波获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉华星光电半导体显示技术有限公司申请的专利阵列基板、显示面板及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114597196B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210198100.4，技术领域涉及：H01L23/544；该发明授权阵列基板、显示面板及电子设备是由吴咏波设计研发完成，并于2022-03-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本阵列基板、显示面板及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种阵列基板、显示面板及电子设备，所述阵列基板包括测试结构，所述测试结构至少包括第一测试结构，所述第一测试结构用于测试所述阵列基板的柔性衬底的电学性能，所述第一测试结构包括：柔性衬底；阻隔层，设于所述柔性衬底上；测试电极层，包括第一测试电极和第二测试电极，所述第一测试电极与所述阻隔层接触，所述第二测试电极与所述柔性衬底接触。本发明通过在阵列基板内设置测试结构，在测试柔性衬底的电学性能时，利用外部的测试探针对所述第一测试电极和所述第二测试电极输入测试电压，利用所述测试结构对所述阵列基板的柔性衬底进行电学性能监测，便于所述阵列基板内薄膜晶体管器件的性能研究，有利于所述阵列基板的设计。
本发明授权阵列基板、显示面板及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种阵列基板，其特征在于，包括测试结构，所述测试结构至少包括第一测试结构，所述第一测试结构用于测试所述阵列基板的柔性衬底的电学性能，所述第一测试结构包括： 柔性衬底； 阻隔层，设于所述柔性衬底上； 测试电极层，包括第一测试电极和第二测试电极，所述第一测试电极与所述阻隔层接触，所述第二测试电极与所述柔性衬底接触； 其中，所述第一测试电极在所述柔性衬底上的正投影与所述第二测试电极在所述柔性衬底上的正投影不重合； 所述柔性衬底包括第一有机衬底、第二有机衬底、以及位于所述第一有机衬底和所述第二有机衬底之间的无机衬底，所述第二有机衬底位于所述阻隔层和所述无机衬底之间，所述第一测试电极设于所述阻隔层上，且与所述阻隔层接触，所述第二测试电极与所述第一有机衬底接触，且与所述第二有机衬底绝缘。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉华星光电半导体显示技术有限公司，其通讯地址为：430079 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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