极光先进雷射株式会社守屋正人获国家专利权
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龙图腾网获悉极光先进雷射株式会社申请的专利传感器劣化判定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115038944B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080095271.3，技术领域涉及：G01J3/02；该发明授权传感器劣化判定方法是由守屋正人设计研发完成，并于2020-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本传感器劣化判定方法在说明书摘要公布了：本公开的一个观点的传感器劣化判定方法包含判定步骤，在判定步骤中，判定粗略用传感器和精细用传感器中的至少一方的劣化，粗略用传感器接收由粗略用分光器产生的干涉条纹，精细用传感器接收由精细用分光器产生的干涉条纹，在判定步骤中，使波长分别不同的多个激光依次入射到粗略用分光器和精细用分光器，根据接收的多个干涉条纹取得每个波长的粗略计测波长和每个波长的精细计测波长，根据每个波长的粗略计测波长和每个波长的精细计测波长取得每个波长的劣化参数，对每个波长的劣化参数和阈值进行比较。
本发明授权传感器劣化判定方法在权利要求书中公布了：1.一种传感器劣化判定方法，其包含以下步骤： 判定步骤，处理器判定粗略用传感器和精细用传感器中的至少一方的劣化，该粗略用传感器接收由粗略用分光器产生的干涉条纹，该精细用传感器接收由分辨率比所述粗略用分光器高的精细用分光器产生的干涉条纹；以及 输出步骤，所述处理器输出所述判定的结果， 所述判定步骤包含以下步骤： 粗略计测波长取得步骤，使波长分别不同的多个激光依次入射到所述粗略用分光器，根据所述粗略用传感器依次接收的多个干涉条纹取得每个波长的粗略计测波长； 精细计测波长取得步骤，使所述多个激光依次入射到所述精细用分光器，根据所述精细用传感器依次接收的多个干涉条纹取得每个波长的精细计测波长； 劣化参数取得步骤，根据所述每个波长的粗略计测波长和所述每个波长的精细计测波长取得所述每个波长的劣化参数；以及 比较步骤，对所述每个波长的劣化参数和阈值进行比较。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人极光先进雷射株式会社，其通讯地址为：日本栃木县；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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