南京奈思电子科技有限公司孙伟获国家专利权
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龙图腾网获悉南京奈思电子科技有限公司申请的专利一种方便替换的测试用信号芯片结构获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223461622U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202423212895.3,技术领域涉及:G01R1/04;该实用新型一种方便替换的测试用信号芯片结构是由孙伟设计研发完成,并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种方便替换的测试用信号芯片结构在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种方便替换的测试用信号芯片结构,涉及电子测试设备技术领域,包括测试设备主体和嵌入槽:所述测试设备主体的内部开设有嵌入槽,所述嵌入槽的内侧固定有固定件。该方便替换的测试用信号芯片结构将信号芯片模块底角的卡勾嵌入测试设备主体内部开设的嵌入槽中,当卡勾外表面接触到嵌入槽内部设置的卡块,卡块随着卡勾的深入沿着固定件进行转动,随后,卡块与卡勾上的槽形成卡合连接,在需要对信号芯片模块进行拆卸更换时,通过手动向下抵接卡块斜表面,使得卡块向下转动,以便解除卡块与卡勾的卡合连接,进而实现对信号芯片模块的拆卸,以便工作人员能够快速对信号芯片模块进行更换,缩短操作时间,提升测试连续性。
本实用新型一种方便替换的测试用信号芯片结构在权利要求书中公布了:1.一种方便替换的测试用信号芯片结构,包括测试设备主体1和嵌入槽2,其特征在于: 所述测试设备主体1的内部开设有嵌入槽2,所述嵌入槽2的内侧固定有固定件3,所述固定件3的中部固定有第一弹簧4; 所述固定件3的中部转动连接有卡块5,且卡块5呈竖截面呈三角结构,并且卡块5与第一弹簧4呈固定连接; 所述测试设备主体1的上方设置有信号芯片模块6,所述信号芯片模块6的底角固定有卡勾7,且卡块5与卡勾7呈卡合连接,并且卡块5与卡勾7沿着测试设备主体1和信号芯片模块6四角对应设置四组。
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